基于边界扫描的存储器BIST技术

发布时间：2018-06-15 21:04

  本文选题：边界扫描 + BIST　； 参考：《计算机测量与控制》2014年01期

【摘要】：近年来,随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求;存储器在板级模块上经常使用,其BIST是板级BIST的重要组成部分;文章紧密联系应用需求,并以工程应用作为参考目标,提出了一种易于实现的基于两级移位"1"算法的SRAM簇测试算法,该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100%覆盖,并给出了基于该测试算法的SRAM簇测试BIST架构。
[Abstract]:In recent years, with the increase of the complexity of information equipment and the increasing demand for field level rapid test diagnosis, the BIST technology based on boundary scan is urgently needed. In this application mode, the BIST technology based on boundary scan can solve the fast test diagnosis requirement of the field level; the storage device is often used on the board level module, and the BIST is the board level BIST. An important part of the paper is connected with the application requirements, and a SRAM cluster testing algorithm based on the two level shift "1" algorithm is proposed, which is easy to implement. The algorithm can achieve 100% coverage of all detectable barriers under the premise of guaranteeing the security of the test, and the SRAM based on the test algorithm is given. The cluster tests the BIST architecture.
【作者单位】： 黑龙江龙电电气有限公司;
【分类号】：TP333

【参考文献】

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【共引文献】

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本文编号：2023649