当前位置:主页 > 科技论文 > 计算机论文 >

基于边界扫描的存储器BIST技术

发布时间:2018-06-15 21:04

  本文选题:边界扫描 + BIST ; 参考:《计算机测量与控制》2014年01期


【摘要】:近年来,随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求;存储器在板级模块上经常使用,其BIST是板级BIST的重要组成部分;文章紧密联系应用需求,并以工程应用作为参考目标,提出了一种易于实现的基于两级移位"1"算法的SRAM簇测试算法,该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100%覆盖,并给出了基于该测试算法的SRAM簇测试BIST架构。
[Abstract]:In recent years, with the increase of the complexity of information equipment and the increasing demand for field level rapid test diagnosis, the BIST technology based on boundary scan is urgently needed. In this application mode, the BIST technology based on boundary scan can solve the fast test diagnosis requirement of the field level; the storage device is often used on the board level module, and the BIST is the board level BIST. An important part of the paper is connected with the application requirements, and a SRAM cluster testing algorithm based on the two level shift "1" algorithm is proposed, which is easy to implement. The algorithm can achieve 100% coverage of all detectable barriers under the premise of guaranteeing the security of the test, and the SRAM based on the test algorithm is given. The cluster tests the BIST architecture.
【作者单位】: 黑龙江龙电电气有限公司;
【分类号】:TP333

【参考文献】

相关期刊论文 前1条

1 王隆刚,李桂祥,杨江平;基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究[J];计算机测量与控制;2003年04期

【共引文献】

相关期刊论文 前4条

1 房子成,李桂祥,杨江平,张贤志;基于边界扫描技术互连网络自动测试方法研究[J];半导体技术;2005年10期

2 张西多;易晓山;胡政;;基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计[J];计算机测量与控制;2006年05期

3 崔伟;冯长江;丁国宝;;基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现[J];计算机测量与控制;2009年08期

4 王爱珍;吴晓晔;王石记;;基于边界扫描的BIST技术[J];计算机测量与控制;2011年10期

相关硕士学位论文 前8条

1 杨江;边界扫描测试建模关键技术研究[D];哈尔滨工业大学;2011年

2 于德伟;基于边界扫描的数字系统可测性设计研究[D];哈尔滨工业大学;2006年

3 薛鹏;基于JTAG的板级互连测试技术的研究[D];天津理工大学;2007年

4 刘建芳;基于边界扫描测试技术的测试图形生成的研究[D];江苏大学;2006年

5 毛晟;JTAG控制器的设计[D];西安电子科技大学;2008年

6 彭立章;边界扫描板级测试技术的研究及SOPC实现[D];哈尔滨工业大学;2007年

7 马宁;基于SoC的PCL设计和形式验证[D];西安电子科技大学;2012年

8 尚延臣;基于边界扫描技术的故障检测及演示系统的研究与设计[D];武汉理工大学;2012年

【二级参考文献】

相关期刊论文 前3条

1 宋克柱,杨小军,王砚方;边界扫描测试的原理及应用设计[J];电子技术;2001年10期

2 游方,钱彦岭,胡政;边界扫描测试仪软件系统开发[J];国防科技大学学报;2000年03期

3 周战馨,缪栋;基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统[J];计算机自动测量与控制;2002年02期

【相似文献】

相关期刊论文 前10条

1 徐钦桂;基于边界扫描的大型多处理器系统的硬件调试[J];计算机工程;2005年09期

2 冯国臣;沈绪榜;刘春燕;;基于March X算法的SRAM BIST的设计[J];微电子学与计算机;2005年12期

3 张义忠 ,魏震生 ,冯振声 ,田良;ScanBIST:扫描机内自检技术[J];国外电子测量技术;1998年01期

4 徐钦桂,杨桃谰;边界扫描在MPP大规模并行计算机调试诊断中的应用[J];计算机应用;2004年S2期

5 林凌,李刚;C8051与SRAM的高速接口[J];单片机与嵌入式系统应用;2002年06期

6 张盛兵,高德远;32位微处理器的边界扫描设计[J];航空电子技术;2000年01期

7 魏安全;单片机系统RAM随机数据存储器数据的掉电保护技术[J];微型机与应用;1999年07期

8 杨柳 ,夏宇闻;一种基于MCU内部Flash的在线仿真器设计方法[J];电子技术应用;2001年11期

9 王云景,鲁毅钧;硬件控制的8k×8 SRAM/EEPROM U630H64原理及接口应用[J];国外电子元器件;1998年04期

10 刘太明,郭怡倩;串行SRAM-X24C45芯片在针板自动冲床系统中的应用[J];南京师范大学学报(工程技术版);2001年04期

相关会议论文 前10条

1 谈恩民;王彦婷;;通用SoC芯片中存储器的一种整体测试方法[A];2007'仪表,,自动化及先进集成技术大会论文集(二)[C];2007年

2 刘客;李振涛;李勇;邢座程;;一种电流模式敏感放大器及其在SRAM的应用[A];第15届全国信息存储技术学术会议论文集[C];2008年

3 谈恩民;张勇;;一种新型的可编程存储器BIST设计[A];2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集(下册)[C];2004年

4 吴义成;梁华国;李松坤;黄正峰;易茂祥;;一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年

5 赵凯;高见头;杨波;李宁;于芳;刘忠立;肖志强;洪根深;;CMOS SOI SRAM电路的抗单粒子能力研究[A];第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集[C];2009年

6 唐民;;超深亚微米SRAM和Flash存储器的辐射效应[A];第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集[C];2009年

7 于跃;郭旗;任迪远;李鹏伟;;静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统[A];第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集[C];2009年

8 周敏;李少青;;CPU测试结构的设计和实现[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年

9 焦慧芳;张小波;贾新章;;一种基于LFSR与MARCH C+算法的SRAM内建自测电路设计[A];第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C];2005年

10 黄明键;赵建玉;王伟;;基于S3C4510B网络处理器的系统设计[A];第七届青年学术会议论文集[C];2005年

相关重要报纸文章 前6条

1 特约作者 八戒;未来CPU缓存的主角[N];电脑报;2010年

2 闫书强;不会消失的“0”和“1”[N];电脑报;2009年

3 本报记者 丁伟;百变POWER7 驱动智慧地球[N];计算机世界;2010年

4 本报记者 冯晓伟;MCU:高数位产品增速加快[N];中国电子报;2008年

5 本报记者 宋家雨;拥抱Power7的新时代[N];网络世界;2010年

6 刘霞;美研制新型非易失性铁电存储设备[N];科技日报;2011年

相关博士学位论文 前3条

1 郑丹丹;嵌入式CPU的纳米尺度SRAM设计研究[D];浙江大学;2009年

2 李清安;面向非易失性片上存储的编译技术研究[D];武汉大学;2013年

3 李博;固态硬盘写效率及能耗优化研究[D];华中科技大学;2010年

相关硕士学位论文 前10条

1 孙燃;SRAM IP实速测试系统设计与测试[D];苏州大学;2012年

2 徐雅男;90nm工艺高速低功耗SRAM的设计[D];复旦大学;2010年

3 王振;抗辐射加固SRAM设计与测试[D];国防科学技术大学;2010年

4 康颖;支持异构并行多处理器的SRAM控制接口模块的设计研究[D];西安电子科技大学;2011年

5 晏莎莎;低功耗高稳定性八管SRAM单元电路设计[D];西安电子科技大学;2011年

6 龙娟;高速低功耗SRAM的设计与实现[D];西安电子科技大学;2007年

7 吴晨;基于数据保持电压的低功耗SRAM设计[D];苏州大学;2011年

8 张家胜;65nm工艺下嵌入式SRAM技术的研究与实现[D];国防科学技术大学;2011年

9 仇名强;65nm高性能SRAM体系架构及电路实现[D];安徽大学;2012年

10 吕百涛;SRAM PVT补偿方法研究及电路实现[D];安徽大学;2012年



本文编号:2023649

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/2023649.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户92023***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com