基于Flash的关键变量容错存储技术研究

发布时间：2018-07-05 04:57

  本文选题：微处理器 + Flash　； 参考：《电子技术应用》2014年11期

【摘要】：嵌入式系统中往往需要保存少量复位或掉电后依赖的关键变量,利用处理器片内Flash存储参数已经成为常规选择,但与常规Flash存储器件相比,片内Flash擦除次数更为有限,难以满足系统生命周期要求。研究了如何延长微处理器片内Flash使用寿命以及关键系统变量容错存储技术,针对典型嵌入式系统应用,分析Flash擦写管理机制,基于写磨损均衡算法进行改良,进一步提升系统容错能力。该技术在基于STM32单片机硬件平台进行了测试验证。
[Abstract]:In embedded systems, a small number of key variables that are dependent on reset or power down are often kept. Using Flash memory parameters in processor chips has become a normal choice, but compared with conventional Flash memory devices, the number of in-chip Flash erasures is more limited. It is difficult to meet the requirement of system life cycle. This paper studies how to extend the service life of Flash in microprocessor chip and the key system variable tolerant storage technology. Aiming at the typical embedded system application, this paper analyzes the flash erasure management mechanism and improves it based on the write wear equalization algorithm. Further improve the fault tolerance of the system. The technology is tested and verified on the hardware platform of STM32 single chip computer.
【作者单位】： 解放军信息工程大学;清华大学计算机科学与技术系;
【分类号】：TP368.1;TP333

【参考文献】

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本文编号：2099012