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基于ARM11的MMC验证测试平台设计与实现

发布时间:2018-09-03 07:29
【摘要】:随着半导体技术的发展,非易失性存储领域的主流从NOR结构逐渐转向NAND结构闪存。而高容量NAND闪存,需要日益复杂的坏块和纠错位管理系统,从而催生了Managed NAND闪存系统。针对Managed NAND闪存系统的主流协议MMC(Multi Media Card),大型系统级测试设备得到一定应用。但这些设备成本高昂,且不支持移动测试。因此有必要研制低成本的测试系统。 本文主要介绍了一种基于ARM的MMC(Multi Media Card)存储芯片测试验证方案的实现。本文的测试系统通过ARM11的系统板的硬件再次开发,以及Linux操作系统的移植和修改开发后完成对于MMC存储芯片的测试。测试系统拥有低成本、良好的可携带性以及便于使用的优点,在工程调试阶段可以达到替代大型测试仪器,在客户支持阶段满足大型仪器无法达到的更好的可移动支持。
[Abstract]:With the development of semiconductor technology, the mainstream of non-volatile memory is gradually changing from NOR structure to NAND structure flash memory. High capacity NAND flash memory needs more and more complex bad block and error correction management system, which leads to the emergence of Managed NAND flash memory system. The mainstream protocol of Managed NAND flash memory system, MMC (Multi Media Card), is applied to large system level test equipment. But these devices are expensive and do not support mobile testing. Therefore, it is necessary to develop a low-cost test system. This paper mainly introduces the implementation of a MMC (Multi Media Card) memory chip test verification scheme based on ARM. The test system of this paper is redeveloped by the hardware of the ARM11 system board, and the Linux operating system is transplanted and modified to complete the test of the MMC memory chip. The test system has the advantages of low cost, good portability and ease of use. It can replace the large test instrument in the engineering debugging stage and meet the better movable support that the large instrument can not achieve in the customer support stage.
【学位授予单位】:上海交通大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2013
【分类号】:TP316.81;TP333;TN407

【参考文献】

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本文编号:2219327

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