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高速接口故障波形形态分析

发布时间:2019-03-26 20:29
【摘要】:随着数据处理能力的不断提高,高速接口的应用越来越广泛。高速接口的测试难度较大,需要依靠工程师的经验和较长时间的分析才能确定故障的类型和位置。通过故障状态下高速接口的波形形态分析,确定了故障与故障波形之间的对应关系,降低了故障分析定位代价。实验系统以实际PCIE IP核构造了片间传输逻辑结构,利用SPICE模拟器模拟出了各种故障下的波形形态,形成了故障字典。
[Abstract]:With the continuous improvement of data processing ability, the application of high-speed interface is more and more extensive. It is difficult to test the high-speed interface. It depends on the engineer's experience and long-time analysis to determine the type and location of the fault. Through the waveform shape analysis of the high-speed interface under the fault condition, the corresponding relationship between the fault and the fault waveform is determined, and the cost of fault analysis and location is reduced. The experimental system constructs the logical structure of the inter-chip transmission based on the actual PCIE IP core, simulates the waveforms under various faults by using the SPICE simulator, and forms the fault dictionary.
【作者单位】: 湖南大学信息科学与工程学院;国防科学技术大学计算机学院;
【基金】:超级计算机处理器研发(2013ZX01028001-002)资助
【分类号】:TP334.7

【参考文献】

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