改进型March算法在内存异常检测中的应用

发布时间：2020-03-26 01:36

【摘要】： 随着深亚微米VLSI技术的发展,存储器密度的增长使存储器的测试面临着更大的挑战。而随着半导体工艺尺寸不断缩小,存储器可能存在的故障类型越来越多,使得测试时间和测试成本都急剧增长。因此,存储器测试方法的研究日益受到重视。在可以接受的测试费用和测试时间的限制下,准确的故障模型和有效的测试算法是至关重要的,存储器测试算法的选择以及测试的实现方法是存储器测试的关键。本文介绍了存储器测试的应用现状,目前对于存储器的测试方法,总结了存储器传统的故障模型和内存测试算法,详细分析了March算法的优势、演变及各改进算法的特点。虽然PC产品的各部件在进入电脑工厂前产品都有经过测试,PC产品的一些主要部件在客户使用后故障率仍然是居高不下的,因此PC产品的整机测试包括存储器的测试仍然是非常必要的。而随着存储器容量的增大,测试时间正日益成为测试过程中不可忽视的瓶颈。针对这一情况,本文以March测试算法为基础,设计出一种改进型March算法——March-TBL算法,该算法在故障覆盖率不变的情况下,大大减少了测试时间。原有的March算法中很多操作步都是为了区别出不同的故障类型,而在计算机整机的产品测试中,对存储器的测试要求是故障覆盖率较高的同时测试时间尽量缩短,对于区别不同的故障则不做要求。因此可以通过缩减这一部分的测试达到优化的目的。本文最后设计并实现一个基于该改进型算法的内存检测原型程序,对所设计的内存检测原型程序的结构进行了介绍,列出了其设计和运行效果,用以验证该算法的有效性。最后,本文在总结和展望中指出,将存储器内建自测试(MBIST)应用于PC机所有类型的存储器上,是将来存储器测试优化的努力方向,这样可以显著减少存储器的测试时间,从而大量节省测试成本。
【图文】：

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内存、CPU、显示卡、声卡、主机板、硬盘驱动器、光驱等。虽然PC产品的各种部件在进入电脑工厂前供应商都有经过严格测试的，PC产品的一些主要部件在客户使用后故障率仍然是居高不下的。图2.1一2.3是某品牌PC产品台式机、笔记本、服务器在2008年6月至10月客户反馈的按部件排序的故障分布图。 lllll;.。.。。。.、，，/一一...2{M如.6画2仪卜.了口2工洲用.8口2以州，匀国2谊加用 .1000图2.1台式机配件客户故障分布图

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图2.2笔记本配件客户故障分布图iiiiii。、。‘ha滩‘‘...2的民6.2的已‘7口2的氏包口加能.勺.2阅民轰OOO图2.3服务器配件客户故障分布图
【学位授予单位】：厦门大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2008
【分类号】：TP333

【引证文献】