大规模存储器的高速并行测试解决方案

发布时间：2020-04-10 11:35

【摘要】： 集成电路制造技术工艺的发展和市场的庞大需求使得大容量高速存储器产量日益提升,相对应的为迎合市场的需求需要提供一种综合成本最低的测试解决方案。该方案包含了两个关键因素:高速测试,并行测试。在不大规模提升测试成本的前提下,通过同周期信号复用的方式进行倍频,并在多芯片测试时使用共享信号的方式,达到高速且并行的要求。
【图文】：

DQS输入/输出

DDR测试时的数据输入控制方法
【学位授予单位】：上海交通大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2007
【分类号】：TP333

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本文编号：2622175