MicroSD存储器测试方法研究

发布时间：2020-05-11 21:11

【摘要】： Flash存储器发展到今天,容量速度都在飞速的提高,并为了追求更好的性能衍生出了各种各样的单元结构。我们需要研究如何针对一个Flash产品进行迅速有效的测试。在本文中,我们首先回顾了Flash的发展历程,对如今Flash的现状有了一个初步的了解。然后我们以SanDisk公司的MicroSD单元结构为研究对象,通过与传统单元的对比,充分了解该单元结构的优点并分析了其故障模型。接着,我们开始对采用了这种单元结构的产品MicroSD进行了介绍并准备对其进行测试。了解了其产品功能特性后,我们结合MicroSD的故障模型,详细研究了其测试原理和方法。最后制定出了完整的测试流程,对该产品进行了测试并予以总结。本论文主要有以下两个特点:1.结合生产实践中的失效机理确定测试方法;2.本文的测试方法和程序已经用于正常生产,并得到比较好的结果。
【学位授予单位】：复旦大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2008
【分类号】：TP333

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本文编号：2659072