基于USB2.0的配置接口电路软硬件设计与实现
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2007
【分类号】:TP334.7
【图文】:
1.1.2 边界扫描技术的特点和优势图1-1 支持边界扫描测试的芯片内部结构边界扫描技术的核心是在芯片引脚和芯片内部逻辑之间(即集成电路的边界)增加附加的扫描单元,如图 1-1 所示。通过边界扫描单元来控制和观察芯片引脚的状态,因此被称为边界扫描测试。它接口简单,稳定可靠,仅仅使用四根或五根JTAG 总线(TMS、TCK、TRST、TDI 和 TDO),不必借助针床、示波器等其他设备即可实现对电路的测试。它不仅能测试集成电路芯片的输入/输出引脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及芯片之间互连的开路和短路故障。它对芯片引脚的测试可达到 100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位。由于它是一个国际化的标准,有很强的通用性,因此各公司生产的带有 JTAG 接口的芯片均可以组成一个数字系统。同时,相比传统的方法,JTAG 减少了产品的测试时间
- 7-图2-1 控制传输的三个阶段控制传输是 USB 系统用来配置设备并对其进行控制的传输方式。设计者也可以根据需要来利用这种方式。每个 USB 设备都有一个缺省的控制传输管道(端点 0),用于接受主机 USB 系统的控制命令。一次控制传输一般由三个阶段组成,如图 2-1 所示。在设置阶段(SETUP Stage),主机向设备发出一个设置(SETUP)事务传输,规定主机所要求的操作。接下来是数据阶段(DATAStage),由若干个数据事务传输组成。传输的方向和数据内容由 SETUP 封包规定。最后是状态阶段(STATUS Stage)。它由一个状态事务组成,设备返回传输是否成功的状态信息。由于在通常情况下一个 USB 系统需要与多个端点进行各种传输,那么就会关心如何为这些不同的传输分配带宽。USB 会在每帧都留有一定的时间用于控制传输
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本文编号:2721277
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