基于嵌入式的综合测试仪的设计与实现

发布时间：2020-08-04 16:11

【摘要】：近年来,计算机科学和微电子技术的不断提高,极大地推动了测量仪器技术的快速发展。人们对测量仪器技术提出了更高的标准和要求,而传统的测量仪器存在着功能简单、速度慢、实时性差、对数据处理能力有限等问题。嵌入式测量仪器利用嵌入式计算机强大的数据处理能力,可弥补传统仪器的不足,具有广泛的应用前景。 本文主要利用嵌入式技术,设计一台综合测试仪,可实现数字示波器、逻辑分析仪、信号发生器、频谱分析仪、数字电压表等功能。首先分析了系统的任务要求及目标,提出了ARM+CPLD+嵌入式Linux架构的设计方案。设计方案采用了Samsung公司的S3C2410X处理器作为综合测试仪的控制模块的主芯片,该处理器高性能、低功耗,同时具有丰富的片上资源。采用Altera公司的MAX7000S系列的CPLD芯片EPM7256S,进行数据的高速采集。 其次分析综合测试仪的系统功能,给出对应模块的性能指标。在此基础上进行具体硬件模块的原理图和PCB板的设计,主要分为数字示波器、逻辑分析仪、信号发生器三个部分。 在软件部分主要研究了CPLD程序、设备驱动程序和应用程序三个部分的内容。详细介绍了软件的具体功能和流程图,实现硬件电路整体的协调工作,Linux系统下硬件设备的识别和操作,以及用户图形界面的开发实现等部分。 最后对综合测试仪系统整体的软硬件进行了相应的测试,基本实现了本文的预期设计目标。
【学位授予单位】：南京理工大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2010
【分类号】：TP216;TP368.1
【图文】：

发送命令参数给硬件电路，并接收硬件电路传输的数据，使整个系统实现协调工作。软件部分主要包括了CPLD程序、设备驱动程序、应用程序三个部分。系统的总体架构如图2.1所示:硬件部分综合测试仪软件部分系统控制模块时序控制模块电源模块数字示波器模块逻辑分析仪模块信号发生器模块C户LO程序设备驱动程序应用程序图2.1系统总体架构图

S3C2410X内部结构图

QtlEmbedded的实现结构图

【参考文献】

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本文编号：2780782