磁光记录介质特性检测技术研究
发布时间：2020-11-05 10:50
磁光记录原理是利用热磁效应写入,克尔效应读出信息。以磁光记录材料为记录介质的光盘具有容量大、非挥发、可靠性高、寿命长等优点。随着磁光材料理论、磁光材料制备方法研究的发展,进一步研究磁光记录介质性能的测试方法具有重要的意义。本论文的研究工作是:通过理论分析,得出一种新的磁光克尔效应检测方法;研制出磁光记录介质特性的检测系统;研制工作中,在克尔角信号检测电路、光路及整个测试系统误差分析方面做了大量的工作。 应用磁光效应的唯象理论,得出克尔角、反射率和经过偏振分光镜的两路线性光光强的简单的数学关系,从而用模拟电路即可实现克尔角、反射率测量。 磁光特性测试系统信号检测电路由信号采集、处理、显示与输出及电路电源等部分组成。在硬件电路上采用了光电转换、差动放大以及各种滤波技术,解决了微弱信号检测问题,并有效地抑制各种噪声;在光路设计上,通过设计专用的反射镜、支架并采用合理校准步骤,确保光路准确稳定地工作。 另外,对测试系统的噪声进行了分析和计算,通过误差分析确定了设备的静态特性。 研制成功的测试设备已应用于测量商用磁光盘、TbFeCo系磁光薄膜、Nd(Tb,Dy)Co系磁光薄膜并取得很好的测试结果。仪器的测试范围和精度可以满足科学研究和教学实验的要求。
【学位单位】：华中科技大学
【学位级别】：硕士
【学位年份】：2006
【中图分类】：TP333
【部分图文】：
(c)图 1-1 磁光盘写入读出原理图记录介质的发展记录对记录介质的要求理想的磁光记录介质必须满足的性能为：录介质的磁化矢量垂直于膜面，因而其垂直各向异性常数 Ku>2方向取向稳定；为了满足这一点，材料的饱和磁化强度 Ms应小具有明显的优点。温矫顽力 Hc以实现尽可能大的数据密度，因为稳定的记录位尺寸 d∝1/Hc来表示，亚铁磁性材料的补偿温度 Tcomp在室温附近时，证良好的记录开关特性，薄膜的磁滞回线必须为矩形，即剩磁比
图 1-2 福勒极向克尔角测量沈德芳在 1981 年用极向克尔回线反转的办法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 无定形对补偿温度影响的结果[46]，所用的装置如图 1-3 所示。X-Y 记录仪的 X 方是与样品磁场成正比的霍尔电压，而 Y 轴的讯号是与样品垂直方向的磁化向克尔效应成比例的差分放大器的输出，因此连续改变磁场大小和方向就个磁滞回线。采用差分放大器可以消除光源光强的变化对测量的影响，并灵敏度。这样一个系统，根据回线的有无和大小还可以较为迅速而方便地均匀性和克尔效应的大小。
图 1-4 磁光调制测量装置示意图期测量中应用较多的是磁光调制法，图 1-4 是 1984 年刘公强等人采用元件测量克尔角的实验示意图[50]。即在频率为 ω 的外加交变磁场或电电场的偏振面发生微小的调制变化。最终从检偏器出来并被检测的光成分可得到要测量的克尔角 θk。其优点是可获得较高的信噪比。缺点信号幅度最大来确定克尔旋转角。转检偏器的方法是通过测量检偏器的方位角在不同位置时光信号强磁光克尔旋转角和椭偏率。其优点是图像清楚，所用的光学器件少，宽，系统可以自行定标，是一种磁光效应的绝对值测量法，且易于实动化操作。陈良尧于 1995 年报道了采用旋转检偏器的测试装置，该光样品，可以达到绝对测量准确率为 0.01 °[54]。伟荣于 1996 年对 Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改， SMOKE（表面磁光克尔效应谱）系统[58]。系统的光路图如图 1-5 所
【引证文献】
本文编号：2871530
【学位单位】：华中科技大学
【学位级别】：硕士
【学位年份】：2006
【中图分类】：TP333
【部分图文】：
(c)图 1-1 磁光盘写入读出原理图记录介质的发展记录对记录介质的要求理想的磁光记录介质必须满足的性能为：录介质的磁化矢量垂直于膜面，因而其垂直各向异性常数 Ku>2方向取向稳定；为了满足这一点，材料的饱和磁化强度 Ms应小具有明显的优点。温矫顽力 Hc以实现尽可能大的数据密度，因为稳定的记录位尺寸 d∝1/Hc来表示，亚铁磁性材料的补偿温度 Tcomp在室温附近时，证良好的记录开关特性，薄膜的磁滞回线必须为矩形，即剩磁比
图 1-2 福勒极向克尔角测量沈德芳在 1981 年用极向克尔回线反转的办法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 无定形对补偿温度影响的结果[46]，所用的装置如图 1-3 所示。X-Y 记录仪的 X 方是与样品磁场成正比的霍尔电压，而 Y 轴的讯号是与样品垂直方向的磁化向克尔效应成比例的差分放大器的输出，因此连续改变磁场大小和方向就个磁滞回线。采用差分放大器可以消除光源光强的变化对测量的影响，并灵敏度。这样一个系统，根据回线的有无和大小还可以较为迅速而方便地均匀性和克尔效应的大小。
图 1-4 磁光调制测量装置示意图期测量中应用较多的是磁光调制法，图 1-4 是 1984 年刘公强等人采用元件测量克尔角的实验示意图[50]。即在频率为 ω 的外加交变磁场或电电场的偏振面发生微小的调制变化。最终从检偏器出来并被检测的光成分可得到要测量的克尔角 θk。其优点是可获得较高的信噪比。缺点信号幅度最大来确定克尔旋转角。转检偏器的方法是通过测量检偏器的方位角在不同位置时光信号强磁光克尔旋转角和椭偏率。其优点是图像清楚，所用的光学器件少，宽，系统可以自行定标，是一种磁光效应的绝对值测量法，且易于实动化操作。陈良尧于 1995 年报道了采用旋转检偏器的测试装置，该光样品，可以达到绝对测量准确率为 0.01 °[54]。伟荣于 1996 年对 Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改， SMOKE（表面磁光克尔效应谱）系统[58]。系统的光路图如图 1-5 所
【引证文献】
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1 武雪芹;;论市级党校图书馆数字资源的长期保存[J];内蒙古科技与经济;2012年01期
本文编号：2871530
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