基于SimpleSim-ARM模拟器的软错误易感性分析与评估

发布时间：2021-01-11 00:01

　　随着集成电路特征尺寸的逐步缩小,随之而来快速增长的软错误率严重限制了现代微处理器的应用,因此对微处理器可靠性进行评估十分重要。在微处理器体系结构级进行软错误易感性评估能反映出微处理器部件的可靠性,提出基于Simple Sim-ARM模拟器对微处理器体系结构级进行软错误易感性评估的方法,可用于对ARM体系结构微处理器进行软错误易感性评估。根据提出方法对Strong ARM SA-11xx进行软错误易感性分析,实验结果表明,在基准配置情况下,存储部件中寄存器文件的平均AVF值为57. 76%;非存储部件发射队列（IQ）、保留站与重定序缓冲（RUU）与功能单元（FU）的平均AVF值分别为38. 53%、32. 02%和12. 39%。在不同配置下,IQ和RUU部件容量越大,对应部件AVF评估值越小; FU数量越多,该部件AVF评估值越小。 

【文章来源】：计算机应用研究. 2020,37(07)北大核心

【文章页数】：5 页

【文章目录】：
0 引言
1 AVF计算方法
    1.1 指令分析
    1.2 分析逻辑屏蔽指令
    1.3 生命周期分析
2 实验方法
    2.1 软错误易感性评估功能结构
    2.2 模拟器配置与测试程序
3 实验结果
    3.1 寄存器文件的AVF结果
    3.2 非存储结构的AVF结果
        3.2.1 基准关键参数配置
        3.2.2 不同关键参数配置
    3.3 相关研究比较
4 结束语


【参考文献】：
期刊论文
[1]基于指令流混合比与功能单元匹配的软错误脆弱性控制方法[J]. 唐柳,黄樟钦,张会兵.  计算机应用研究. 2017(01)
[2]微处理器可靠性AVF评估方法研究综述[J]. 唐柳,黄樟钦,侯义斌,方凤才,张会兵.  计算机应用研究. 2014(03)
[3]一种快速有效的L2 Cache可靠性预测方法[J]. 成玉,马安国,王永文,唐遇星,张民选.  计算机研究与发展. 2013(01)
[4]基于内建自测的软错误与老化在线检测[J]. 杨叔寅,秦晨飞,黄正峰,梁华国.  计算机工程. 2012(08)
[5]基于SRAM结构的FPGA抗辐射布局算法[J]. 杨文龙,陈丽,王伶俐,王颖.  计算机工程. 2012(05)
[6]微处理器体系结构模拟器SimpleScalar分析与优化[J]. 金立忠,窦勇.  计算机应用研究. 2006(08)



本文编号：2969664