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四核心微处理器测试方法的研究

发布时间:2021-03-05 17:38
  i7微处理器是英特尔2008年推出的新一代4核心的微处理器。该微处理器采用了45纳米工艺,并采用了英特尔Nehalem微架构.Nehalem微架构是可扩展的架构,微处理器中的每个工作单元均采用了模块化设计,如核心的数量,IMC(Integrated Memory Controller)数量,SMT(Simultaneous Multi-Threading)功能,QPI(Quick Path Interconnect)的数量,LLC(LAST LEVEL CACHE)缓存容量,内存通道数量,时钟频率等,这些模块可以自由组合,以满足不同的市场需求。微处理器生产测试过程中所使用的测试机是来自ADVANTEST公司的T2000测试机。T2000自动测试设备系统是一款可供用户自行配置的模块化的半导体芯片测试机系统,在业界也是被广泛应用。目前,为了测试频率高达5G的PCIE总线,我们所使用的测试模块为6.5G的差分模块。同时,为了节约成本及达到一定的测试精度,测试机也配备了800MHz的数字测试模块。所以,用户可以根据自己的不同需求来制定测试机的配置,以达到节约成本,最大限度的提高测试机的利用率。... 

【文章来源】:复旦大学上海市 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:52 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

四核心微处理器测试方法的研究


2测试模块及测试程序

自动测试,信号,输入缓冲器,测试机


在输入输出电压测试中,输入低电压是指输入缓冲器可以检测为逻辑“0”的最高输入电压;输入高电压是指输入缓冲器可以检测为逻辑,’l”的最小输入电压。如图4一12所示:鑫瑞幸掣翼藻V旧二700mVVIL=3O0mV图4一12被测试芯片所检测的信号来自于自动测试机。如果这个信号太小,测试就会错误.测试机会根据程序中设定好的值发射一个足够大的信号让被测芯片所感测。如上图所示,这个规范为700mv和30Omv.所以,当我们测试的时候,我们就设定输入高电平为650mv,输入低电平为350mV。如果芯片可以在这些电压下通过,那么芯片一定可以在规范中规定的更加宽松的电压下通过。测试机的驱动部分如图4一13


本文编号:3065589

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