时延故障测试产生算法与I DDT 测试实验研究

发布时间：2021-03-13 09:56

　　随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，测试作为IC产业中一个极为重要的环节，变得越来越困难。特别是进入深亚微米发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片的功能更加强大，同时也带来了一系列的测试问题。工业界常采用电压测试和稳态电流测试方法来测试数字CMOS IC。电压测试的方法比较简单，速度快，它对于检测固定型故障是有效的，但对于检测CMOS工艺中的其他类型故障则显得有些不足。20世纪80年代初，人们提出了用测量CMOS电路稳态电流的方法来测试集成电路，但随着深亚微米技术的发展，这种方法的局限性也暴露出来，如测试速度慢、故障与正常电流的差别变小等。90年代中期，人们提出了瞬态电流测试的方法，试图通过分析正常电路和故障电路在两次稳定状态之间电流变化过程的不同来发现一些其他测试方法所不能发现的故障，以进一步提高故障覆盖率。本文在瞬态电流测试已有算法的基础上，针对门时延故障模型，提出了一种基于3个向量的测试产生算法。实验表明产生的向量能有效的检测时延故障。为了进一步验证瞬态电流测试方法的理论，本文着手对具体电路的瞬态电流进行测量。对给定电路C432的3个特定故障：168点开路故障、444点固... 

【文章来源】：湖南大学湖南省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：65 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

C17电路图

C432故阵电路瞬态电流波形

被测芯片整体版图

【参考文献】：
期刊论文
[1]全速电流测试的故障精简和测试生成[J]. 牛小燕,闵应骅,邝继顺.  计算机辅助设计与图形学学报. 2004(10)
[2]CMOS IC漏极静态电流测试技术的现状与发展[J]. 姜岩峰,张晓波,鞠家欣.  微电子学. 2004(04)
[3]减少多种子内建自测试方法硬件开销的有效途径[J]. 李立健,赵瑞莲.  计算机辅助设计与图形学学报. 2003(06)
[4]FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用[J]. 魏小芬,邝继顺.  同济大学学报(自然科学版). 2002(10)
[5]一种动态电流测试产生方法的SPICE模拟验证[J]. 朱启建,邝继顺,张大方.  电子学报. 2002(08)
[6]通路时延测试综述[J]. 李华伟,闵应骅,李忠诚.  计算机工程与科学. 2002(02)
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硕士论文
[1]提高瞬态电流测试自动测试生成时间效率的方法及全速电流模拟[D]. 张鑫.湖南大学 2005
[2]基于非确定门延时的瞬态电流测试生成算法研究及BIST测试产生器设计[D]. 汪昱.湖南大学 2004
[3]IDDT动态电流测试方法研究[D]. 朱启建.湖南大学 2002



本文编号：3080009