一种移动终端中提高卡接口可靠性的策略
发布时间:2021-06-10 18:54
几乎所有的移动终端都会带有卡接口,常用的有SIM卡和T卡(Micro SD卡),用以存储网络参数和用户数据,如果设计中没有充分考虑,卡接口设计的可靠性,一旦出现烧卡问题,就会使得终端散失通讯功能或者用户数据的彻底丢失,因此,此类故障对用户来说,是致命的。本文详细论述了一种由于新卡接口(SIM和T卡三选二卡座)的引入,带来的低概率可靠性问题,经过反复实验与分析,发现传统的时序设计,没有考虑到用户在新卡接口日常操作场景,从而导致潜在的可靠性风险。最终,通过优化时序,解决了该问题,由此可见,工程师在进行产品开发中,需要引入场景化设计思维。
【文章来源】:电子器件. 2020,43(04)北大核心
【文章页数】:6 页
【部分图文】:
三选二卡座实物图
为了排查是不是拔卡动作引起故障,即插入卡后,手机上电识别卡时时序错误导致卡坏。因此,测量SIM和T卡的上电时序。但是,时序符合规范,没有发现异常情况,如图2~图5所示。图3 RST与CLK信号时序
RST与CLK信号时序
【参考文献】:
期刊论文
[1]电子产品可靠性设计浅析[J]. 黄天太. 新型工业化. 2018(10)
[2]军用电子产品可靠性设计研究[J]. 杨小钶. 山东工业技术. 2018(09)
[3]电子产品可靠性设计[J]. 曹琼. 电子测试. 2016(05)
[4]电子产品可靠性设计理论及应用概要[J]. 李艳. 科技致富向导. 2013(08)
[5]电子产品的可靠性设计探讨[J]. 周秀清,刘兆黎. 石油仪器. 2006(03)
[6]电子产品可靠性设计与制造及试验[J]. 楚斌,金晓华. 低压电器. 2005(04)
[7]电子产品的可靠性设计[J]. 刘美俊. 电子质量. 2004(04)
[8]电子产品可靠性设计与成本控制[J]. 李宗亮. 电子产品可靠性与环境试验. 2002(02)
[9]论电子产品可靠性设计新思维[J]. 陈光远. 电子产品可靠性与环境试验. 1996(03)
本文编号:3222936
【文章来源】:电子器件. 2020,43(04)北大核心
【文章页数】:6 页
【部分图文】:
三选二卡座实物图
为了排查是不是拔卡动作引起故障,即插入卡后,手机上电识别卡时时序错误导致卡坏。因此,测量SIM和T卡的上电时序。但是,时序符合规范,没有发现异常情况,如图2~图5所示。图3 RST与CLK信号时序
RST与CLK信号时序
【参考文献】:
期刊论文
[1]电子产品可靠性设计浅析[J]. 黄天太. 新型工业化. 2018(10)
[2]军用电子产品可靠性设计研究[J]. 杨小钶. 山东工业技术. 2018(09)
[3]电子产品可靠性设计[J]. 曹琼. 电子测试. 2016(05)
[4]电子产品可靠性设计理论及应用概要[J]. 李艳. 科技致富向导. 2013(08)
[5]电子产品的可靠性设计探讨[J]. 周秀清,刘兆黎. 石油仪器. 2006(03)
[6]电子产品可靠性设计与制造及试验[J]. 楚斌,金晓华. 低压电器. 2005(04)
[7]电子产品的可靠性设计[J]. 刘美俊. 电子质量. 2004(04)
[8]电子产品可靠性设计与成本控制[J]. 李宗亮. 电子产品可靠性与环境试验. 2002(02)
[9]论电子产品可靠性设计新思维[J]. 陈光远. 电子产品可靠性与环境试验. 1996(03)
本文编号:3222936
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/3222936.html