闪存的优化测试方法

发布时间：2021-08-17 02:47

　　众所周知,闪存的发展从容量到速度都超乎人们想象。测试就相应地处在越来越重要的地位,因为产品的发展使得测试时间越来越长,对测试设备体积和速度的要求也越来越高。测试在半导体行业中一直是比较昂贵的。测试并不决定或者影响产品质量,所以不会为产品带来任何附加价值。测试的目的,是通过失效产品以发现制造工艺中的缺陷,并及时找到补救或者持续改进的方法以减少对终端客户的影响或者提高产品生产率。在开发和测试存储器件方面,工程师面临着许多挑战。要获得更低的消费价格,就要不断削减测试成本和时间。从设备而言,动辄上百万美金的设备不容易进行测试上的升级,而且即使升级价格也非常昂贵,通常为企业所不取。本课题所研究的TTR（Test Time Reduction,减少测试时间）方法是基于产品原理的,并不从基本上对测试设备做出任何改进,而是通过软件的设计方法结合产品工作原理,实现高效准确地完成对产品的质量测试。相对欧美而言,由于存储器产品的整体发展程度早于国内所以国外的测试设备和测试方法也比较先进。通过对于产品测试pattern的设计来优化测试时间的方法在多种测试方法著作中都有谈及,但是由于产品原理不同,所以所应用的优... 

【文章来源】：上海交通大学上海市 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：71 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
ABSTRACT
1 概述
2 闪存器件原理
    2.1 闪存类型及应用
    2.2 快闪存储器的操作模式
    2.3 多级单元闪存(MLC)技术
    2.4 闪存的测试流程
3 TTR 工作原理
    3.1 TTR 的方法
    3.2 目前的测试 Pattern 及 DPM 水平
4 PBI 分级测试TTR 可行性研究
    4.1 TTR 研究对象
    4.2 1P/E 可行性分析
    4.3 Partial 1PE 可行性分析
    4.4 Partial 1P/E TTR 风险预估
5 试验过程
    5.1 实验环境要求
    5.2 搭建实验环境
    5.3 Pattern 设计与验证
    5.4 Screen 设计与验证
    5.5 实验结果分析
6 总结
参考文献
致谢
攻读学位期间发表的学术论文



本文编号：3346903