55nm SONOS存储技术及关键电路研究
发布时间:2021-08-18 02:05
近年来,中国最大的进口贸易已被半导体产业所主导,非易失性存储器在其中占据着重要地位。而浮栅存储器作为非易失性存储器的宠儿,一直引领着存储器产业的高速发展。在浮栅存储器基础上发展而来的SONOS存储器,因其一系列优点,再次成为关注的焦点。SONOS存储器使用较薄的O-N-O三层结构代替了浮栅存储器中复杂的叠栅结构,因而更具有可缩小性;兼容CMOS工艺;只需要额外三层掩膜版,降低了SONOS的制造工艺复杂度和生产成本;较薄的氧化层厚度,使擦写操作电压更低,电荷泵更小;超过500K次的抗擦写特性和20年的保持特性使存储器性能更加可靠。诸多优点使得SONOS存储器得到了更为广泛的应用,诸如MCU、SOC、FPGA、智能卡片等场所均能适用。本论文为中国科学院微电子研究所三室开发的一款SONOS存储器的部分工作,芯片工艺采用标准55nm CMOS嵌入式存储器工艺。本文主要包括SONOS存储器的前期准备工作和部分关键电路模块设计工作,并最终完成一款具有基本功能的存储器芯片。本文首先对SONOS存储器的基本特性与工作原理进行了介绍,针对应用场景,对SONOS存储器的编程、擦除机制进行了选择;其次,依托...
【文章来源】:安徽大学安徽省 211工程院校
【文章页数】:84 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图1-1存储器的结构分类示意图??Fig.?1-1?Schematic?diagram?of?the?structure?classification?of?memory??
(a)纳米晶存储器剖面示意图?(b)SONOS存储器音IJ面示意图??图1-3纳米晶和SONOS存储器剖面示意图??Fig.?1-3?Diagram?of?(a)?nano-ciystalline?and?(b)?SONOS?memory??1.2?SONOS存储器的发展??近年来,电荷俘获型存储器发展迅速,与浮栅结构相比,两者具有类似的结??构,需要在电荷存储层存储电荷信息,不同的是电荷俘获型存储器的存储电荷分??散在电荷俘获层的陷阱中。绝缘材料中存在大量的陷阱,所以通常使用SiCb、??Al2〇3、Si3N4等绝缘介质作为电荷俘获层,而且陷阱中的电荷难以移动,从而有??效阻止了电荷的流失。??电荷俘获型存储器是第一个实现非易失性存储的存储器,在1967年被首次??发明提出,图所示是电荷俘获型存储器的发展历程[15]。??MNOS?SNOS?SONOS??多晶娃??■?|?丨"…一?■■?丨"■丨丨?I?多晶桂?|??!?氮化硅450A?氮化硅250
从而完成存储或移除电子的操作。外加电场强度越大,势垒形变越大,通过FN??隧穿的电荷就越多。而且,基于FN隧穿的擦写操作是作用于整个沟道区电子的??“面操作”。作为SONOS器件常见的编程、擦除机制,其操作示意图如图2-1和??图2-2所示。??vniocnnn??r??槺极??电荷俘获层???w??\?阻挡茇化层?_??\?>鲁,?平?^??VM)V?▲?A?Vd=OV?/??,?Ev??/I?I?A?衬底??_^y???Ec.?M????_ZJ?Ev?」??i?电荷@获层?(??v^?v?『隧穿茇化层??(a)编程操作电压7K意图?(b)编程能带7K意图??图2-1?FN隧穿示意图??Fig.?2-1?Diagram?of?FN?tunneling,?(a)?programming?operation?voltage?and?(b)?energy?band??10??
本文编号:3348972
【文章来源】:安徽大学安徽省 211工程院校
【文章页数】:84 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图1-1存储器的结构分类示意图??Fig.?1-1?Schematic?diagram?of?the?structure?classification?of?memory??
(a)纳米晶存储器剖面示意图?(b)SONOS存储器音IJ面示意图??图1-3纳米晶和SONOS存储器剖面示意图??Fig.?1-3?Diagram?of?(a)?nano-ciystalline?and?(b)?SONOS?memory??1.2?SONOS存储器的发展??近年来,电荷俘获型存储器发展迅速,与浮栅结构相比,两者具有类似的结??构,需要在电荷存储层存储电荷信息,不同的是电荷俘获型存储器的存储电荷分??散在电荷俘获层的陷阱中。绝缘材料中存在大量的陷阱,所以通常使用SiCb、??Al2〇3、Si3N4等绝缘介质作为电荷俘获层,而且陷阱中的电荷难以移动,从而有??效阻止了电荷的流失。??电荷俘获型存储器是第一个实现非易失性存储的存储器,在1967年被首次??发明提出,图所示是电荷俘获型存储器的发展历程[15]。??MNOS?SNOS?SONOS??多晶娃??■?|?丨"…一?■■?丨"■丨丨?I?多晶桂?|??!?氮化硅450A?氮化硅250
从而完成存储或移除电子的操作。外加电场强度越大,势垒形变越大,通过FN??隧穿的电荷就越多。而且,基于FN隧穿的擦写操作是作用于整个沟道区电子的??“面操作”。作为SONOS器件常见的编程、擦除机制,其操作示意图如图2-1和??图2-2所示。??vniocnnn??r??槺极??电荷俘获层???w??\?阻挡茇化层?_??\?>鲁,?平?^??VM)V?▲?A?Vd=OV?/??,?Ev??/I?I?A?衬底??_^y???Ec.?M????_ZJ?Ev?」??i?电荷@获层?(??v^?v?『隧穿茇化层??(a)编程操作电压7K意图?(b)编程能带7K意图??图2-1?FN隧穿示意图??Fig.?2-1?Diagram?of?FN?tunneling,?(a)?programming?operation?voltage?and?(b)?energy?band??10??
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