基于单片机的光感芯片光学性能测试系统

发布时间：2025-01-20 16:43

　　 光学性能是评估光感芯片的功能与质量的重要指标,光谱仪的测试是一般的方法。以单步单色仪进行光谱响应测试,需要人工调整波长间隔并机械点击鼠标,工作量较大且易出错。本文以单片机驱动芯片,VB建立数据接收系统,控制信号传输间隔,有效的提高测试效率。测试结果表明,该系统切实可行。

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【部分图文】：

图2 测试系统界面

(7)数据分析,作图光谱响应曲线(如图3)。图3光谱响应曲线

图1 检测系统结构流程图

测试软件使用VB和C++作为程序开发软件。VB主要用于界面生成,对单色仪进行二次开发,配合PCI数据卡进行数据抓取,C++主要为单片机进行IIC协议交互控制。1.3光学测试系统实际制作

图3 光谱响应曲线

图2测试系统界面3光学测试系统实验室标准对比

本文编号：4029403