半空间双相压电介质垂直边界附近圆孔对SH波的散射

发布时间：2018-01-02 06:02

  本文关键词：半空间双相压电介质垂直边界附近圆孔对SH波的散射　出处：《爆炸与冲击》2017年04期 　论文类型：期刊论文

  更多相关文章： 半空间 双相压电介质 圆孔 SH波 动应力集中系数 电场强度集中系数

【摘要】：利用"Green函数法"和"镜像法"对垂直边界附近含圆孔的半空间双相压电介质对SH波的散射问题进行分析,得到其稳态解。利用镜像法得到满足水平边界应力自由与电位移自由的波函数解析表达式。根据垂直边界连续性条件,利用"契合法"建立第一类Fredholm型积分方程组,得到圆孔周边的动应力集中系数与电场强度集中系数解析表达式。数值算例分析了入射波频率、入射角度、介质参数等对动应力集中系数与电场强度集中系数的影响,并与已有文献进行比较。计算表明,高频SH波垂直入射危害较大。
[Abstract]:Using "Green function method" and "mirror image method", the scattering problem of SH waves in half-space dielectrics with circular holes near the vertical boundary is analyzed. The analytical expressions of wave function satisfying the horizontal boundary stress freedom and electric displacement freedom are obtained by using the mirror image method. By using the "coincidence method", the first kind of Fredholm integral equations are established, and the analytical expressions of the dynamic stress concentration coefficient and the electric field intensity concentration coefficient around the circular hole are obtained. The frequency of the incident wave is analyzed by a numerical example. The influence of incident angle and medium parameters on the dynamic stress concentration coefficient and electric field intensity concentration coefficient is compared with the previous literatures. The calculation shows that the high frequency SH wave is harmful to vertical incidence.
【作者单位】： 哈尔滨工程大学航天与建筑工程学院;
【基金】：黑龙江省自然科学基金项目(A201404)
【分类号】：O343.4
【正文快照】： 压电介质具有机-电耦合效应,广泛应用于智能结构和传感器元件中,实现结构的自我诊断、自我修复等功能,因此其在未来航空航天飞行器设计中占有重要地位。由于加工工艺、环境变化等因素,复合材料会产生圆孔等缺陷,这些缺陷存在于界面附近(材料性质变化最剧烈)时,会引起材料失效

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本文编号：1367954