残余应力分析方法比较:X射线衍射法与应力释放法

发布时间：2018-02-28 14:41

  本文关键词： 残余应力 X射线衍射 环芯法　出处：《实验力学》2017年05期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：残余应力分析方法主要有衍射法、应力释放法和声、光、磁等方法。其中,X射线衍射法与应力释放中的钻孔技术与理论最为成熟,应用最广。在应力均匀且数值较小时,两者可以给出相互接近的结果。然而当样品微小且微观结构复杂时,两者给出的结果会有明显的差异。本文利用上述两种方法对同一纯铜样品表面的残余应力进行分析,对比分析结果并讨论了相关的影响因素。我们对X射线衍射法与环芯法的适用性进行了讨论:前者适用于晶体材料的无损检测,而后者更能反映当前应力水平。此外,对方法的选用需要考虑应力测试的目的。
[Abstract]:The methods of residual stress analysis mainly include diffraction method, stress release method and acoustic, optical and magnetic methods. The drilling technique and theory in X-ray diffraction and stress release are the most mature and widely used. They can give close results. However, when the sample is small and the microstructure is complex, the results are obviously different. In this paper, the residual stress on the surface of the same pure copper sample is analyzed by using the above two methods. The applicability of X-ray diffraction method and ring core method is discussed: the former is suitable for nondestructive testing of crystal materials, and the latter is more able to reflect the current stress level. The purpose of stress measurement should be taken into account in the selection of methods.
【作者单位】： 清华大学航天航空学院;
【基金】：国家自然科学基金(11227202,1147215,51407176,51477167) 国家重点研究计划(2013CB934203)资助
【分类号】：O348

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本文编号：1547721