基于视觉显著性的LED晶圆自动提取系统

发布时间：2018-03-29 21:25

  本文选题：晶圆　切入点：阈值　出处：《电子技术应用》2017年12期

【摘要】：晶圆目标提取是晶粒计数系统的重要处理环节,是确保晶粒计数准确度的前提条件。目前主要应用阈值化方法将晶圆目标从背景中提取出来,由于离型纸固有因素影响,造成成像灰度不均匀,严重影响晶圆目标范围的有效识别。系统通过对光源的闭环控制,取得合适亮度的晶圆图像后,在Harris轮廓点的外围区域确定边界,通过内部区域对边界的连接度来检测区域中的晶圆视觉显著性目标。试验证明,该系统能精确地在离型纸背景上有效提取晶圆目标。
[Abstract]:Wafer target extraction is an important part of grain counting system and a precondition to ensure the accuracy of grain counting. At present, the thresholding method is mainly used to extract wafer target from background, which is affected by the inherent factors of release paper. The image grayscale is uneven, which seriously affects the effective recognition of the target range of the wafer. After obtaining the appropriate brightness wafer image through the closed loop control of the light source, the boundary is determined in the peripheral region of the Harris contour. The wafer visual salience target in the region is detected by the connection degree of the inner region to the boundary. The experiment shows that the system can extract the wafer target accurately on the background of the parting paper.
【作者单位】： 无锡职业技术学院物联网技术学院;深圳市艾特智能科技有限公司;
【基金】：国家自然科学基金项目(61502204)
【分类号】：TN312.8;TP391.41

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