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基于SPC的良率管理系统的设计与实现

发布时间:2021-09-22 20:08
  随着科技的发展,运用计算机来处理和分析生产制造中所得到的数据,运用程序帮助人工分析,推理判断和决策。对于提高生产效率,提升产品良率有,着极大的帮助。使得生产过程智能化管理,最终实现工业4.0。在半导体行业中,尤其是面板行业,产品质量对于设备参数尤为敏感,recipe的极小波动都有可能导致产品良率的大幅波动。对于参数的合理收集和分析,对于提升产品的良率,提高各个设备在生产过程中各参数的合理程度,降低相关技术部门的工作复杂度和提高整体工作效率和准确率,都有着重要的作用。本文完成了一个良率管理系统,详细论述了产品不良数据的自动收集存储和C/S模式的基于统计过程控制(Statistical Process Control,SPC)的良率管理(Yield Management System,YMS)系统。我们首先调研了各个设备上传的产品不良数据,统一了格式,并统计各个部门对于数据分析的需求,对YMS系统进行了总体分析和符合需求的详细设计进。本系统分为两大部分,收集数据的Loader部分,和分析数据展示图表的客户端功能模块,其中客户端部分包含登陆模块,管理模块,SPC分析模块,不良分析模块,生产数... 

【文章来源】:内蒙古大学内蒙古自治区 211工程院校

【文章页数】:50 页

【学位级别】:硕士

【文章目录】:
摘要
abstract
第一章 绪论
    1.1 YMS系统概述
    1.2 研究背景及意义
        1.2.1 研究背景
        1.2.2 研究意义
    1.3 研究现状
        1.3.1 国外研究现状
        1.3.2 国内研究现状
    1.4 论文的组织结构
第二章 需求分析
    2.1 需求分析的意义和原则
    2.2 系统功能需求
    2.3 用例分析
    2.4 非功能性需求
    2.5 本章小结
第三章 系统设计
    3.1 系统的整体架构
    3.2 模块划分与功能设计
    3.3 主要功能模块的设计
        3.3.1 文件监控模块与存储模块
        3.3.2 YMS客户端搜索流程
    3.4 数据库设计
        3.4.1 YMS系统E-R图
        3.4.2 YMS系统数据表的设计
    3.5 本章小结
第四章 系统实现
    4.1 YMSLoader的实现
    4.2 YMS系统的实现
        4.2.1 登录界面的实现
        4.2.2 用户信息管理
        4.2.3 不良信息查看
        4.2.4 不良率分析
        4.2.5 EDC数据分析
        4.2.6 SPC分析
        4.2.7 依照类型分析
    4.3 本章小结
第五章 系统测试
    5.1 系统测试概述
    5.2 系统功能测试用例
        5.2.1 YMSLoader部分测试
        5.2.2 YMS客户端登录模块测试
        5.2.3 YMS不良信息查看测试
        5.2.4 YMSSPC分析测试
    5.3 系统非功能性测试
    5.4 系统测试结果
第六章 结论与展望
    6.1 结论
    6.2 展望
参考文献


【参考文献】:
期刊论文
[1]JAVA编程语言在计算机软件开发中的应用[J]. 杨旭.  电子技术与软件工程. 2018(07)
[2]Oracle中查询优化技术的应用[J]. 田彬.  电子技术与软件工程. 2018(06)
[3]Oracle数据库性能调整与优化研究[J]. 于泳波.  价值工程. 2018(13)
[4]软件工程中的UML建模技术[J]. 陈冠元.  电子技术与软件工程. 2018(05)
[5]Oracle数据库优化设计分析和探讨[J]. 阮正平.  科技与创新. 2018(05)
[6]统计过程控制(SPC)在烟草生产过程中的应用[J]. 李冠华,陈光辉.  现代经济信息. 2017(24)
[7]计算机Oracle数据库优化措施的相关研究[J]. 范志勤,王勉.  时代农机. 2017(10)
[8]基于.NET的文件控制系统在某选矿项目中的实现[J]. 张慧娜.  矿业工程. 2017(04)
[9]SPC统计过程控制在质量管理中的应用[J]. 王丹,吴伟.  数字通信世界. 2017(06)
[10]Web应用开发中JAVA编程语言的应用探讨[J]. 籍慧文.  科技创新与应用. 2017(07)

硕士论文
[1]SPC在B公司质量管理中的应用研究[D]. 黄国华.苏州大学 2017
[2]基于C#的数据采集上位机软件设计[D]. 梁玉.西安电子科技大学 2014
[3]A公司良品率零缺陷管理的改进策略与应用研究[D]. 孟丹.电子科技大学 2014
[4]UNIX服务器集中监控系统的设计与实现[D]. 李波.中南林业科技大学 2013
[5]0.11微米工艺下混合信号芯片良率问题研究[D]. 蔡颖.复旦大学 2011



本文编号:3404310

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