基于条件分类执行切片谱的多缺陷定位方法研究

发布时间：2025-02-26 21:00

　　软件产品是人们生活中不可或缺的一部分。软件产品的可靠性与可用性成为了人们关心的重要问题。人们在不断变化的环境与需求中对软件的测试与调试提出了更高的要求。调试是提高软件质量的手段之一,它能有效找出软件缺陷所在。近年来,软件的多样性及复杂性给软件调试人员带来极大的挑战。因此,精确的定位软件中所出现的缺陷是当前软件缺陷定位的研究热点。基于谱的缺陷定位方法(spectrum-based fault localization,简称SBFL)是当前最流行软件缺陷定位技术之一。该技术通过收集程序的覆盖信息及执行结果来定位缺陷位置。但是,SBFL方法没有考虑到程序的依赖性,存在局限性。基于条件执行切片谱的多错误定位技术(A technique of Conditioned Execution Slicing Spectrum-based Multiple Fault Localization,简称CESS-MFL)考虑了程序的依赖性,可以一定程度的降低程序随着缺陷数的增多而效率降低的问题,但该技术仍受与缺陷无关语句的影响比较大。针对上述问题,本文提出了一种基于条件分类可执行切片的多缺陷定位方法(Cond...

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【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图3.1CCESS-MFL方法流程图

Fig.3.1FlowchartofCCESS-MFLmethod图3.1CCESS-MFL方法流程图件分类执行切片谱节主要介绍主要介绍如何构建条件分类执行切片谱。19条件分类执行切片谱已知程序P的inI输入变量集，关于式()inCI，根据....

图4.8西门子数据集效果图

陷的定位中明显比传统的定位技术Tarantula、Jaccard、OchiaiS-MFL技术也明显比其他四个方法效果要好。然而，在一些子版本中，CCESS-MFL技术也不尽人意，这是因为有些程序运及偶然正确性的影响比较严重，比如replace子套件中出现个效率低，因此，....

本文编号：4034377