基于超声相控线阵的缺陷全聚焦三维成像

发布时间：2017-09-22 09:07

  本文关键词：基于超声相控线阵的缺陷全聚焦三维成像

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【摘要】：在无损检测领域,缺陷三维成像能够还原材料内部缺陷的空间信息,与传统的二维成像相比有着明显的优势。目前实现超声相控阵缺陷三维成像主要依靠面阵探头,而这些设备往往十分复杂和昂贵。通过采取适当的数据采集方法和后处理成像算法,超声相控线阵系统能够实现低成本、高效率的三维超声检测成像。采用断层扫描和全矩阵捕捉的方法获取成像数据;再利用全聚焦成像算法绘制高分辨率的断层图像;根据这些图像在三维空间中真实的位置关系,插值还原出缺陷的三维图像。此外,针对全聚焦成像算法计算量大的问题,提出了一种加速算法。实验表明,这种检测方法能够快速得到目标空间区域的高质量三维图像,准确体现缺陷的空间分布情况,相比于借助B扫查图像和C扫查图像材料内部缺陷的方法,具有更强的直观性。
【作者单位】： 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室;
【关键词】： 超声相控阵 三维成像 全聚焦成像 加速算法
【基金】：国家自然科学基金(61473205)资助项目
【分类号】：TP391.41;TB559
【正文快照】： 1引言超声相控阵系统在工业无损检测领域已经有几十年的成功应用,其主要优势在于灵活的波束形成,高扫查效率,很强的适应性,以及良好的缺陷检出能力[1-4]。通常,检测人员借助超声相控阵仪器给出的B扫查和C扫查图像判断材料内部的真实情况。而这些图像都是二维图像,根据这些图像

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本文编号：899945