偏光膜外观缺陷图像处理与识别算法研究

发布时间：2024-05-08 19:48

　　偏光膜外观缺陷检测,目前主要检测方式仍为人工检测。然而该方式劳动强度大,且人眼易产生疲劳,致使检测可信度及速度偏低。近年来,随着机器视觉领域软硬件的快速发展及广泛应用,促使偏光膜外观缺陷检测技术不断发展。在此背景下,课题组致力于研究关于偏光膜外观缺陷的自动检测技术,从图像采集的硬件设计到图像处理的软件算法等各方面研究正逐步深入。本文主要研究图像处理算法部分,主要研究内容如下:1.空域中基于改进的Niblack局部二值化方法实现缺陷检测。该算法首先通过积分图算法对算法进行加速,突破原始算法速度上的瓶颈。然后改进原始算法中对于掩膜内的局部二值化阈值的计算方式,使算法能适用于对比度更小的缺陷,使其更具鲁棒性。同时通过与实验相结合,设计出掩膜的选择标准。最后对经验参数的值进行修正,使算法可以适用于不同周期的余弦背景,实现二值化阈值的自适应。该算法提升运行速度至耗时约2.3秒,检测准确率达到93%左右。2.变换域中基于小波变换与频域滤波的背景消除法实现缺陷检测。该算法根据图像背景灰度值呈余弦平滑过渡,缺陷占比较小且其灰度值发生突变的特点。在将图像通过DFT或DCT转换至频率域后,背景将是低频成分...

【文章页数】：76 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图1.1凌云科技研发的检测系统

偏光膜外观缺陷图像处理与识别算法研究3的检测[11]。台湾ChengCC等人提出了基于Haar小波变换实现偏光膜外观缺陷检测的方法。利用Haar小波多分辨率的特点，通过对图像进行分段分析，实现针对不同大小和位置的偏光膜外观缺陷的检测。该方法的主要原理是通过将图像分解成分解图，然后....

图1.2条纹反射光照明

偏光膜外观缺陷图像处理与识别算法研究4类型，识别率能达到95%。韩国GuE等人研发了一款基于图像灰度直方图分布的偏光膜外观缺陷检测系统。该系统共分为三部分，分别是图像预处理系统、缺陷候选检测系统和缺陷分类系统。该系统通过对图像背景像素的灰度分布直方图进行分析，以此获取缺陷的像素组....

图1.3FV-Pixcellence检测设备

偏光膜外观缺陷图像处理与识别算法研究6第2章偏光膜外观缺陷图像采集系统及仿真模型研究2.1偏光膜外观缺陷概述偏光膜缺陷包含偏光膜表面缺陷及位于其内部的缺陷，现行业中并未对该概念形成统一的定义，行业内称为“外观欠点”。2.1.1偏光膜外观缺陷类型据调研可知，偏光膜外观缺陷根据其特征....

图1.4TFT-LCD缺陷自动检测分类设备上述所有检测算法和检测设备在检测设备的硬件及检测算法等方面进行了各方面

偏光膜外观缺陷图像处理与识别算法研究6第2章偏光膜外观缺陷图像采集系统及仿真模型研究2.1偏光膜外观缺陷概述偏光膜缺陷包含偏光膜表面缺陷及位于其内部的缺陷，现行业中并未对该概念形成统一的定义，行业内称为“外观欠点”。2.1.1偏光膜外观缺陷类型据调研可知，偏光膜外观缺陷根据其特征....

本文编号：3967735