基于DIC的面内位移高精度测量方法研究
【图文】:
数字图像处理技术、摄影技术以及相关识别分析技术的迅速发展,从数字图像相关方法得到很多研究学者的重视,其理论研究越来越完善,际工程中。本章从基本理论出发,首先通过简单的实例讲解二维数字本原理,接着整理了常见的相关函数,常见的整像素位移搜索算法和,最后介绍计算机模拟散斑图的生成原理及误差分析理论。数字图像相关方法原理概述像相关(DIC)方法的基本原理是利用物体表面随机分布的散斑点作对比分析被测物体表面变形前后的散斑图像,根据一定的相关原则匹子集的位置,从而获取被测物体表面位移信息。原理示意图如图 2-1
方法为试件表面添加具有随机性的人工散斑,增加其灰度梯度特征用于数字图像相关方法的识别。如图2-2所示,二维数字图像相关方法的测量系统由主要由五部分组成,被测试件、图像采集系统(CCD 摄相机或光学显微镜等)、稳定光源(白光光源)、加载系统以及计算机系统(内含数字图像相关方法分析处理软件)。在进行数字图像相关测量时,应将CCD 摄像机的光轴垂直对准待测区域的中心同时确保在整个实验过程中位置保持不变,调节焦距使采集到的散斑图像能够清晰完整的显示在计算机相应窗口中,最后,利用数字图像相关方法的分析软件对散斑图像进行数据处理。图 2-2 二维数字图像相关方法测量系统示意图在进行数字图像相关测量实验时,采集得到物体变形前的散斑图像被称为参考图像,变形后的散斑图像被称为目标图像,,为了计算被测试件表面任意一点0 0P ( x , y ),假设参考图像和目标图像的灰度信息函数分别为 f ( x, y )和 g ( x ', y ')
【学位授予单位】:广州大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TP391.41
【参考文献】
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本文编号:2632307
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