利用金属环聚焦的HTS薄膜R_s分布测试法的研究

发布时间：2017-12-10 17:14

  本文关键词：利用金属环聚焦的HTS薄膜R_s分布测试法的研究

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【摘要】：介绍了一种测试高温超导薄膜微波表面电阻分布的新方法。该方法利用镜像法相关原理,通过引入金属环实现介质谐振器和腔体的能量汇聚,解决了高温超导薄膜微波表面电阻的分布测试通用性与高分辨率不兼容的问题。根据该方法研制了工作在32 GHz的频率下,工作模式为TE012+δ的测试装置,其分辨率为直径5 mm,面积19.6 mm~2的圆面。测试装置对一片两英寸YBCO/LAO/YBCO超导薄膜样品进行了13个点的表面电阻分布测试。
【作者单位】： 电子科技大学光电信息学院;
【基金】：国家自然科学基金(61301055)
【分类号】：TM26
【正文快照】： Study of Distribution Test Method of HTS Thin Film’s Rs Using MetalRing for Focusing高温超导(HTS)薄膜微波表面电阻Rs是高温超导材料非常重要的特性参数,然而高温超导薄膜表面电阻分布并不均匀,故需要对HTS微波表面电阻的分布进行测量,以便更好地评估HTS薄膜的特性,设

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本文编号：1275266