一种液晶相位调制特性的测量方法

发布时间：2017-12-10 18:22

  本文关键词：一种液晶相位调制特性的测量方法

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【摘要】：提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性测量方法.该方法利用液晶构建相位分别为0和φ的二值光栅,通过傅里叶光学的方法推导衍射光栅第0级衍射光斑光强和调制相位φ之间的关系,然后实测光强和液晶驱动电压之间的对应关系来得到相位和液晶驱动电压之间的对应关系,即液晶相位光栅的相位调制特性.最后利用测量相位调制特性结果构建液晶相控阵,用光束偏转误差验证调制特性测量结果,相位测量误差小于1×10~(-3)rad.
【作者单位】： 中国科学院光电技术研究所;中国科学院大学;中国科学院光束控制重点实验室;电子科技大学光电信息学院;
【基金】：中国科学院先导项目量子通信(No.KX-002)资助~~
【分类号】：TN25
【正文快照】： 0引言 液晶器件具有驱动电压低、驱动电流小、重量轻、调制相位可控等优点,近年来,在自适应光学、自由空间光通信、光束偏转等领域成为了研究热点之一[1-6].液晶在使用之前必须要对在某一个波长下对相位调制特性进行测量,才能根据期望得到的相位来施加相应的电压,调制特性的

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本文编号：1275450