基于外腔反馈二极管线阵列的smile效应测量方法

发布时间：2017-12-13 08:00

  本文关键词：基于外腔反馈二极管线阵列的smile效应测量方法

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【摘要】：采用外建激光谐振腔,在低于原芯片阈值的电流激励下对LDA的每个发光点进行单独测量,从而分析整个半导体激光阵列(LDA)的smile效应。实验中利用镀膜反射率大于半导体前腔面的外腔镜形成外腔半导体激光器。在外腔中插入曲面平行于p-n结的柱面镜,使只在光轴上的发光点与外腔镜形成外腔激光器,降低该发光点的激光阈值,从而使其在正常的阈值以下的电流激励下输出激光,在平行于p-n结的方向移动柱面镜,可以逐个对半导体激光器中的发光点进行选择测量,从而获得LDA smile效应的测量值。测量中的低电流激励产生的热量对芯片寿命没有影响,对LDA的发光点的单个测量也避免了其他发光点对CCD的影响。
【作者单位】： 北京工业大学激光工程研究院;
【分类号】：TN248.4
【正文快照】： 1引言半导体激光器以重量轻、体积小、光电转化率高、具有便携性等优点,在工业应用中扮演越来越重要的角色。但在半导体激光封装中,热应力引起半导体激光阵列(LDA)中各个发光单元在垂直于p-n结方向发生位移,使阵列中各个发光单元不在一条直线上,这种现象被称为smile效应[1]。

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本文编号：1284361