受激发射损耗显微中空心损耗光的光强分布优化研究

发布时间：2017-12-17 06:01

  本文关键词：受激发射损耗显微中空心损耗光的光强分布优化研究

  更多相关文章： 显微 受激辐射损耗显微 超分辨 轴外像差 空间光调制器

【摘要】：受激发射损耗显微技术(STED)作为一种远场超分辨显微成像技术,具有几十纳米甚至几纳米的空间分辨率,是细胞生物学等研究领域的重要成像工具。圆环形空心损耗光在物镜焦点附近的光场强度分布对STED空间分辨率起决定性作用。在高数值孔径物镜聚焦下,光场的偏振态会对聚焦光场的强度分布产生显著的影响,此外,显微系统的轴外像差会严重破坏空心损耗光焦斑的中心对称性。基于矢量衍射理论,理论模拟了在高数值孔径物镜聚焦条件下,入射涡旋光的偏振态和光学系统中的彗差和像散对空心损耗光焦场强度分布的影响。实验上使用纯相位型空间光调制器来校准光学系统相差,优化变形的损耗光,利用纳米探针扫描焦点区域,测量了其焦场强度分布。测量结果与由矢量稍微理论观测的结果一致。
【作者单位】： 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金(61522511,11404389,81427802,11474352) 陕西省自然科学基础研究计划(2016JZ020)
【分类号】：O436
【正文快照】： 0318009-1光学显微技术在细胞生物学的发展史上占有极其重要的地位。自17世纪荷兰人Leeuwenhoek发明光学显微镜以来,随着光学元件的加工工艺和光学成像技术的不断发展,光学显微镜的成像形式和成像质量已发生了翻天覆地的变化。然而传统的光学显微镜依然受限于阿贝衍射极限,空，

本文编号：1298976