薄片DKDP晶体前后表面损伤识别技术研究

发布时间：2018-03-21 03:49

  本文选题：DKDP晶体　切入点：双折射　出处：《红外与激光工程》2017年08期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：在全内反射边缘照明的基础上,利用DKDP晶体的双折射特性,解决了区分DKDP晶体自身前后表面损伤的问题。紫外光入射到11 mm厚的DKDP晶体会分解为o光和e光,并在出射面产生254.738μm(理论值)的偏离量。这个偏离量导致DKDP晶体后表面损伤在CCD上成双像(一个是o光成像,另一个是e光成像),可以用偏振片对双像进行调制;DKDP晶体前表面损伤在CCD上只有单像,不受偏振调制影响。通过偏振调制,可以避免重复提取同一个损伤信息,提高损伤识别精度。实验证明:该方法可以区分厚度为11 mm的DKDP晶体前后表面损伤。
[Abstract]:On the basis of total internal reflection edge illumination and using the birefringence of DKDP crystal, the problem of distinguishing the surface damage of DKDP crystal before and after it is solved. The ultraviolet light incident to 11 mm thick DKDP crystal will decompose into o light and e light. And produces a deviation of 254.738 渭 m (theoretical value) on the exit surface, which results in the damage of the back surface of DKDP crystal to double image on CCD (one is o light imaging, The other is the e light imaging device, which can modulate the front surface of the double image with polarizer. There is only a single image on the CCD, which is not affected by the polarization modulation. By polarization modulation, the same damage information can be avoided. The experimental results show that the method can distinguish the surface damage of DKDP crystal with thickness of 11 mm.
【作者单位】： 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学;
【分类号】：TN244

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本文编号：1642132