基于扩展目标的相关哈特曼波前探测方法研究
【图文】:
1.1 基于扩展目标的相关哈特曼波前探测器的研究意义哈特曼波前探测技术最早在 1900 年由德国天体物理学家 Johannes FraHartmann 提出,用于检测光学元件的表面面型。利用一个规则排列的小孔阵列在待测物镜前将光束分割成许多细光束,通过测量该物镜焦面前后垂直光轴截上各细光束形成光斑的中心坐标,即可进一步求得待测物镜上的像差,但该方的测量精度较低,且光能损失大。在 1971 年,Roland Shack 对其进行了十分效的改进,将小孔阵列换成了微透镜阵列,使得该技术的探测精度和光能利用均得到了大幅的提升[1-3]。随后,人们根据该改进后的波前探测技术制成了波传感器,称为夏克-哈特曼波前探测器,,通常简称为哈特曼波前探测器[4-11]。哈特曼波前探测器通常由两个部分组成:微透镜阵列和位于其焦面上的相如图 1.1 所示。微透镜阵列将进入哈特曼的光波前分割成一系列子波前,每个波前通过对应的微透镜成像在相机上,形成图像阵列。
图 1.2 哈特曼背部相机点目标图像阵列Figure 1.2 Spot image array of a Shark-Hartmann senso常通过计算其质心得出[16],如(1.1)式所示:, ,,,,, ,,,,i j i ji jci ji ji j i ji jci ji jx IXIy IYI = = 即为计算得出的光斑质心位置, (xi,j,yi,j)为第 i 行标,Ii,j为第 i 行第 j 列像素的灰度值。如式(1.2质心位置(Xc, Yc)减去参考位置(Xc0, Yc0)即为子0 0x Xc Xc = =
【学位授予单位】:中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所)
【学位级别】:博士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TP391.41;O572.212
【参考文献】
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本文编号:2635058
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