径向剪切干涉法非球面面形检测技术研究
【学位单位】:西安工业大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2018
【中图分类】:O436.1;TP391.41
【部分图文】:
西安工业大学硕士学位论文 24 61 24 621 1 1s rz A s A sk s r 面与光轴的交点处的曲率半径(非球面沿光轴对称),非球面可分为二次曲面和高次曲面两大类,其中二第一项有关,与其他项无关,即: 21 221 1 1s rzk s r 值所对应的二次曲面形状。
1.1 是k 的不同取值所对应的二次曲面形状。图 1.1 二次曲面形状2)非球面度非球面度则是用来描述非球面面形的一个重要参数,它的大小直接反映了光学元件工难易程度,通常情况下尽可能使非球面度小。目前,非球面度有以下三个方向的定原理图如图 1.2 所示[9]。
技术以及计算机技术的引入,使得波面检测技术光波前诊断、航天航空等领域中。现将波面光波的斜率来得到波面的相位信息,如 Sha曲率来得到波面的相位信息,如曲率传感器信息,如斐索、剪切干涉等。下面对几种光感器(SHWS):其原理图见图 1.3,波面经微 靶面上形成光斑。若将理想波和畸变波分别则的光斑(图 1.3 的深实线)和散乱的光斑(图于规则光斑位置发生了偏移,这些偏移量携算法计算出来之后利用波面重构算法可将待,且对光源的相干性要求较低;检测中不存精度高致使透镜阵列加工成本变高;有限的0]。
【参考文献】
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本文编号:2869621
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