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基于闪烁体结构的X射线双能分析光栅设计及成像应用

发布时间:2020-12-06 04:25
  X射线相衬成像技术一直是X射线成像领域的一个前沿方向。相衬成像技术的原理是依靠X射线的相移信息来检测成像物体的内部结构。这种成像技术改善了传统X射线成像技术对弱吸收物体成像不明显的缺点,使得X射线相衬成像技术在医学、无损检测、材料科学以及生物学等领域展现了巨大的应用前景。当前,基于Talbot-Lau效应的X射线光栅相衬成像技术作为最为常用的方法之一,成为相衬成像的研究热点。但该技术普遍存在成像系统繁琐、成像效率不高、步进精度要求高、光栅制作困难等缺点,极大地限制了它的发展。针对以上问题,本文研究并设计了一种基于闪烁体结构的双能分析光栅,将它应用于X射线光栅相衬成像系统,并且阐述了该成像系统的成像原理和相位信息提取方法。此成像系统去除了精密的步进平台结构,使成像系统更简洁,同时解决了由于步进误差而导致成像质量下降的问题,提高了成像效率。此外,相比于传统X射线相衬成像光栅,本系统设计的双能分析光栅还具有便于加工制备等优势。本学位论文主要在以下几个方面开展了研究工作。首先,研究并设计了双能分析光栅的结构,包括制作栅条的材料以及栅条厚度的计算。其次,研究了多步位移提取相位的方法,根据本课题的... 

【文章来源】:天津工业大学天津市

【文章页数】:78 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于闪烁体结构的X射线双能分析光栅设计及成像应用


图1-2?X射线穿透样品的吸收示意图??

示意图,成像,阿伏伽德罗常数,强度


?z?????图1-2?X射线穿透样品的吸收示意图??如图1-2所示W,X射线强度的衰减公式表示为:??(M)??其中:为入射光的强度,透过厚度为Z的样品后强度为/(z)。线性衰减系数:??f?p?N?A??^?=?Pa,^u=?(1-2)??其中M为摩尔质量,a,,为物质的质量密度,为阿伏伽德罗常数,°"?为吸收截??面。总的吸收系数可表示为:"?=??j??图1-3鱼的吸收成像??2??

吸收截面,相移,原子,能量


?X射线相衬成像的国内外研究现状??自从X射线问世以来,研究学者们己经设计了多种X射线相衬成像方法1965年,U.Bonse就提出了晶体干涉仪成像法[6],它的原理是将一块晶体晶体,这两块晶体分别作为分束晶体与和束晶体,利用在其中一束光路体后干涉条纹会产生变化来检测相位信息。1"7年,D.Chapman等又研衍射增强成像法此方法主要利用晶体的反射率不同时,探测器接收也会发生改变,从而能够检测到相位的一阶导数信息。2002年,C.?Dav用Talbot效应,己经开发出一种X射线干涉仪,其中干涉光束不是完全分是被剪切成一小角度,其使用两个透射相位光栅来分析硬X射线的波2003年,日本科学家A.Momos#]用同步辐射源、两块光栅和探测器制台Talbot干涉仪,第一次完成了基于光栅的相衬成像。2005年,T.Weitk()1使用高效光栅千涉仪测量硬X射线(10-30?keV)和相位步进技术,提出吸收与相位信号分离并且容易检索投影相位的方法,同时保持成像系一

【参考文献】:
期刊论文
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博士论文
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硕士论文
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[2]X射线光栅相衬成像装置光强漂移与断层重建研究[D]. 张鹏飞.中国科学技术大学 2016
[3]X射线光栅相位衬度成像实验方法及光栅相关研究[D]. 张灿.中国科学技术大学 2016
[4]相衬成像一阶相移信息提取方法的研究[D]. 丁飞.清华大学 2008



本文编号:2900719

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