Cu m X n （X=Se,Te;m+n≤5）团簇结构和性质的密度泛函理论研究

发布时间：2021-01-12 01:49

　　基于密度泛函理论（DFT）中的B3LYP方法,采用LANL2DZ赝势基组优化了Cu_mX_n（X=Se,Te;m+n≤5）团簇的几何构型,获得了一系列稳定结构,研究了该团簇体系基态结构的相关物理和化学性质。在基态结构和稳定性方面,Cu_mX_n（X=Se,Te;m+n≤5）基态结构随Cu原子数m的递减,由复杂的平面和立体构型变为简单的平面或直线构型。Cu_mSe_n和Cu_mTe_n的基态结构相似且对称性相同,自旋多重度普遍较小,对称性普遍较高。Cu_mTe_n中的Cu-Te键长略长于Cu_mSe_n中的Cu-Se键长,表明Cu-Te键略弱于Cu-Se键。平均结合能显示Cu₃Se₂和Cu₃Te₂、Cu₂Se₂和Cu

【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

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【学位级别】：硕士

【部分图文】：

CumXn（X=Se,Te;m+n=3）团簇最低的几个稳定结构

C∞v, 0.00eV a, C∞v, 0.00eVumXn（X=Se, Te; m+n=2）团簇; m+n=5）团簇的几何结铜硒团簇和铜碲团簇相对应和碲元素位于元素周期表簇在 m+n=5 的多个原子情异构体也不少，有平面结的 Cu4Se 团簇的基态结构本文使用的计算方法是合基态结构均是以 C2v为对称。其中 CuSe4团簇基态结构 和 2.583 ，CuTe4团簇基 2.799 和 2.927 。Cu2Se3

为了研究CumXn（X=Se, Te; m+n≤5）团簇的稳定性特点，计算了该体系团簇基构的平均结合能、垂直电子亲和能、垂直电离能、分子电负性、能隙，通过多方面的特性来讨论该团簇体系的稳定性。.1 平均结合能我们知道，团簇的结合能是可以判断该团簇稳定性大小的直接依据。当团簇的个数相同的情况下，通过平均结合能的大小可以知道，平均结合能越大的时该团簇的结构就越稳定，那么它的热力学稳定性就越好。为了能够直观的看umXn（X=Se, Te; m+n≤5）团簇在相同原子数情况下，其平均结合能大小的数据。由此平均结合能通过以下公式进行近似的计算：mnmCunXCuXmnb E()E()E()E(3-1X=Se, Te。为了能够更加直观的看到该体系团簇在相同原子情况下，各个平均结合能大小化情况，图3-5绘制了当m+n=5、4和3时，各个平均结合能大小的折线走势。

【参考文献】：
期刊论文
[1]标准差标准化方法修正的PBBs多效应3D-QSAR模型及其在环境友好性分子修饰中的应用[J]. 杨璐泽,刘淼.  高等学校化学学报. 2019(12)
[2]1,2,3-三唑类药物活性化合物的密度泛函理论研究[J]. 许丽艳,汪彬,王晓蓉,李强,王鑫,郭生伟.  辽宁石油化工大学学报. 2019(04)



本文编号：2971894