基于多线扫描的X射线聚焦成像算法研究

发布时间：2021-02-19 00:02

　　在X射线透射成像过程中,结构间的相互遮挡导致图像信息混叠,为获取不同深度的结构信息往往需要采用计算机断层扫描（CT）的方法,但是效率偏低。针对上述问题,提出了基于多线扫描的X射线聚焦成像算法,仅需场景目标沿直线通过检测区域,便可提取多视角信息,利用光场重建理论实现指定深度结构的去遮挡重建,具有较高的实时性。对目标的多线扫描和X射线重建结果表明:所提方法可实现任意指定深度层信息的重建,对相互遮挡的目标结构能进行快速成像检测,并提升被遮挡目标的识别性,具有较好的应用前景。 

【文章来源】：光学学报. 2020,40(13)北大核心

【文章页数】：10 页

【文章目录】：
1 引 言
2 基于多线扫描的X射线聚焦成像方法
3 深度分辨率
4 去重叠增强算法
    4.1 聚焦度判断
    4.2 聚焦区域的判别及提取
5 实验与分析
6 结 论



本文编号：3040295