透射波前测量中寄生条纹的产生原理及移除方法

发布时间：2018-06-12 01:16

  本文选题：光学测量 + 透射波前　； 参考：《光学技术》2014年06期

【摘要】：在平行平板类元件透射波前的测量过程中,在干涉强度图上有时会产生寄生条纹,会给透射波前的测量引入较大的误差。阐述了寄生条纹的产生机理,仿真分析了寄生条纹对透射波前测量误差的影响,介绍了调节移除寄生条纹的方法。对一平板类透射元件进行了实验对比,分别测量了在具有寄生条纹时和移除寄生条纹后的透射波前。根据对比结果可以看出,该调节方法能有效地消除寄生条纹对透射波前测量的影响,使测量结果能更真实地反应出元件透射波前的分布。
[Abstract]:During the measurement of the transmission wave before the parallel plate element, the parasitic stripe is sometimes produced on the interference intensity map, which will introduce a large error to the measurement of the transmission wavefront. The mechanism of the parasitic stripe is expounded, the influence of the parasitic stripe on the transmission wavefront measurement error is simulated and analyzed, and the method of adjusting the parasitic stripe is introduced. According to the contrast results, the influence of the parasitic stripe on the transmission wavefront measurement can be effectively eliminated and the measurement results can be more truly reacted to the component of the transmission wavefront of the component. Cloth.
【作者单位】： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心;
【分类号】：TH741

【共引文献】

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本文编号：2007572