一种内压式边柱结构叶片锁的技术开启痕迹研究

发布时间：2022-10-04 17:23

　　目的研究一种内压式边柱结构叶片锁的技术开启形成的痕迹特征。方法使用插片类工具技术开启此类锁芯,拆解锁具,观察锁具零部件上的痕迹反映,分析痕迹形成过程,总结留痕特征。结果技术开启后的锁芯叶片内壁凸起位置周围留下明显痕迹,其中凸起顶端与侧面位置与正常使用痕迹区别明显,在边柱顶端上边缘形成"点、条坑状"凹陷印痕。结论此插片类工具开启叶片锁芯留痕程度明显,可以鉴别。 

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
0 引言
1 锁芯结构
2 实验设计、结果与分析
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3685451