“TECHNART 2015—艺术及文化遗产领域的无损和显微分析技术”国际会议通知

发布时间：2018-03-11 13:29

  本文选题：显微分析　切入点：卡塔尼亚　出处：《文物保护与考古科学》2014年04期 　论文类型：期刊论文

【摘要】：正本会议旨在交流和促进文化遗产领域中分析光谱技术的应用,由LNS-INFN(意大利国家核物理研究院南方实验室),IBAM-CNR(意大利考古与古建筑研究所),卡塔尼亚大学化学系与ICOM-CC科研组、AIAr(意大利科技考古协会)联合举办。会议时间:2015年4月27日至30日会议地点:在意大利卡塔尼亚意大利国家核物理研究院南方实验室(LNS-INFN)主要议题包括:X射线显微分析仪(XRF,PIXE,XRD,SEM-EDX);共聚焦显微镜(3D Micro-XRF,
[Abstract]:The Conference aims to exchange and promote the application of analytical spectral technology in the field of cultural heritage, Jointly organized by LNS-INFN (Southern Laboratory of the National Institute of Nuclear Physics, Italy) IBAM-CNR (Italian Institute of Archaeology and Ancient Architecture, Department of Chemistry, University of Catania, and ICOM-CC Scientific and technological Archaeology Group, Italian Association of Scientific and technological Archaeology). Meeting time: April 2015. Venue of the meeting from 27th to 30th: LNS-INFN at the Southern Laboratory of the Italian National Institute of Nuclear Physics, Catania, Italy. The main topics include: XRFX PIXEX XRDX SEM-EDXX; confocal microscope; 3D Micro-XRFs;
【作者单位】： 《文物保护与考古科学》编辑部;
【分类号】：+
，

本文编号：1598377