双频/宽带宽角频率选择和线圆极化变换表面研究
发布时间:2024-12-02 21:29
随着无线通信技术的发展,通信系统需要处理越来越多复杂的任务,因此须具备大容量、高速率、低损耗等特性。频率选择表面(Frequency Selective Surface,FSS)和线圆极化变换表面作为系统重要组成部件,能保护系统免受带外信号干扰和改变带内信号极化方向,以满足不同的应用需求。这两种周期表面自提出以来发展迅猛,不同类型层出不穷,尤其是基于小型化单元,具有斜入射角稳定性高、栅瓣抑制能力强等天然优势,因此越来越受到研究人员的广泛关注。本文以小型化单元结构为基础,结合全波仿真方法和等效电路法,研究了一系列双频、宽带、宽角等高性能FSS和线圆极化变换表面。论文主要工作内容如下:1、PCB基板作为周期表面结构支撑,其电性能参数直接影响到整个周期表面的性能表现。因此作为研究基础,对PCB基板电性能精确表征具有重要意义。针对传统基于谐振腔法无法宽带测试和测试效率低的问题,本文基于多模基片集成波导(Substrate Integrated Waveguide,SIW)谐振器,提出了一种宽带表征PCB基板电性能方法。具体测试方法是两个封闭的矩形波导经SIW腔上下金属表面刻蚀的耦合缝隙馈电,连续...
【文章页数】:137 页
【学位级别】:博士
【部分图文】:
本文编号:4013937
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【学位级别】:博士
【部分图文】:
图1-2两对不等宽度和长度的SIW传输线[6]
2006年,C.Tseng等人研究了一种基于不等宽度的SIW传输线的测试基板方法[6],如图1-2所示。该方法根据SIW等效宽度和长度随频率变化关系,并结合传输系数公式,获取基板介电常数。测试基板为RO4003,测试频段为26-40GHz。2013年,F.Fesharaki等人研....
图1-3 SIW传输线测试装置[7]
2013年,F.Fesharaki等人研究了在SIW传输线中间挖孔,并将待测材料置于孔中,通过测试SIW两端口传输系数,利用图解法得到待测材料复介电常数关于S参数的函数,从而得到相应的电特性参数[7]。测试装置如图1-3所示,测试频段为12-18GHz。图1-4叠层波导传输线[8....
图1-4叠层波导传输线[8]
图1-3SIW传输线测试装置[7]2014年,X.Wang等人研究了基于不同长度和横截面折叠波导传输线,利用不同传输线两端传输系数对比提取出介质电特性参数[8],如图1-4所示,测试频率为79GHz。
图1-5 SIW腔体微扰测试装置[9]
2008年,K.Saeed等人研究了一种基于SIW腔微扰测试技术[9],如图1-5所示,待测样品通过波导侧壁通孔插入腔体内部,并对腔体谐振模式产生微扰,利用微扰前后谐振频率的变化反演得出待测样品的电性能参数,测试频率为8GHz。2010年,D.Zelenchuk等人研究了分别基于....
本文编号:4013937
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