从1992年SPIE国际会议看国外光学工艺与检测的发展新动向

发布时间：2017-08-03 16:17

  本文关键词：从1992年SPIE国际会议看国外光学工艺与检测的发展新动向

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【摘要】：作者于1992年6月参加了在日本东京举行的光学制造、光学与光学表面平价的国际学术讨论会(SPIE Japan Chapter),会议刊出83篇论文,宣读了75篇。会议代表来自美国、德国、英国、瑞士、中国(包括台湾)及日本等国家。会议论文将SPIE Proceedings Vol.1720全文发表。论文宣读在6月10～12日三天内进行,分光学制造与光学设备、光学表面计量、X光光学、现代干涉计量学与现代光学工艺五个部分,分12个会议场次进行,结合我国情况,归纳如下几个方面,以便了解光学工艺与检测在国际上的发展新动向。1.非球面加工技术及设备,包括天文望远镜大型镜面、X光光学用非轴对称非球面及照相镜
【作者单位】： 浙江大学光电与科学仪器系
【关键词】： 非球面反射镜 扫描探针显微镜 表面粗糙度 光学表面 非轴对称非球面 干涉仪测量 微机控制 面形精度 超光滑抛光 光学零件
【正文快照】： 一、非球面加工技术与设备 首先,日本国家天文台为天文共同体将在夏威夷建造一座sm光学红外望远镜,这座世界上最大的地面望远镜主镜F/2,次镜F/12.2、F12.6,20cm厚sm主镜用美国Corning公司制造的ULE玻璃制造,背面有孔。正在研究成型与抛光的方法:考虑用传统的抛光模,抛光模直

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