早先辐射事故受照者染色体畸变分析和AFM观察
发布时间:2021-10-17 19:20
电离辐射诱发染色体畸变的研究已有数十年的历史。大量研究表明,受照幸存者染色体畸变分析有助于了解细胞残存的畸变类型、畸变率以及畸变率与原先受照剂量之间的关系等。另外,辐射所致染色体的断裂和重排对癌基因和其他相关基因的移位和失调可能起着重要作用。虽然对染色体上断裂点多发部位的真正生物学意义尚不清楚,但可以肯定的是有关损伤热点的研究是辐射远后效应研究中十分重要的一部分。目前染色体畸变分析方法主要包括常规染色法、G显带法和FISH技术等。常规染色法主要是通过观察染色体长度和着丝粒位置改变识别畸变。G显带法可根据染色体上条纹的异常察觉到细微的变化,准确的定位断裂点,这些要明显优于用常规染色进行的核型分析,是目前用以识别辐射损伤、遗传病、肿瘤、血液病等的染色体易位、倒置、缺失等稳定性畸变的主要方法。FISH方法可利用全染色体探针与样品杂交,能迅速分析大量细胞,对易位等畸变的识别较其他两种方法更灵敏、快速。但以上几种方法由于光学显微镜分辨率的限制,无法对染色体畸变结构予以更细微的观察。 1986年,原子力显微镜(AFM)作为一种新的成像技术被研制成功,并逐渐用于生物样品的纳米观测及可控性操作中。由于...
【文章来源】:吉林大学吉林省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:55 页
【学位级别】:硕士
【文章目录】:
缩略语
前 言
材料方法
实验结果
讨 论
参考文献
中文摘要
英文摘要
文摘综述
本文编号:3442289
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