一种用于线粒体受激辐射损耗超分辨成像的新型探针

发布时间：2020-12-31 23:00

　　受激辐射损耗（stimulated emission depletion, STED）显微技术通过巧妙的光学设计,利用纯光学的方法突破了光学衍射极限,空间分辨率达到纳米量级,并保留了荧光显微的许多优点.然而,高的损耗光强度限制了STED显微技术的广泛应用,尤其在活细胞成像方面.本文找到了一种新型的具有良好线粒体靶向性的STED探针,具有较强的抗光漂白特性和较低的饱和擦除光强度3.5 m W (1.1 MW·cm^–2),利用该探针最高可获得62 nm的空间分辨率,为活细胞线粒体STED超分辨成像提供了新的手段. 

【文章来源】：物理学报. 2020年16期 北大核心

【文章页数】：9 页

【参考文献】：
期刊论文
[1]Coherent optical adaptive technique improves the spatial resolution of STED microscopy in thick samples[J]. WEI YAN,YANLONG YANG,YU TAN,XUN CHEN,YANG LI,JUNLE QU,TONG YE.  Photonics Research. 2017(03)



本文编号：2950460