瓷全冠修复体边缘的微渗漏对比研究

发布时间：2020-03-27 18:10

【摘要】：目的 微渗漏是牙体硬组织与修复体之间产生的难以用肉眼察觉的微小缝隙。微渗漏可导致修复体松动脱落,继发龋齿甚至牙髓病等不良后果,是导致修复失败的主要因素,具有严重的危害性。本实验有两个目的,一是使用同种粘结剂粘结三种不同瓷全冠,观察粘结后瓷全冠边缘的微渗漏情况。另一个是选用Cercon CAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠用三种不同粘结剂粘结,观察相同瓷全冠使用不同粘结剂粘结后边缘的微渗漏情况。力求从粘结剂和瓷全冠两方面去探讨其对瓷全冠边缘微渗漏的影响,借以在一定程度上指导临床的修复设计以及粘结选材,并为临床提供有效的理论支持。 方法 挑选因正畸需要拔除的下颌双尖牙40颗,随机分为5组,每组8颗。常规牙体预备,取模,超硬石膏灌制工作模型。随机取一组8个代型制作钴铬金属烤瓷全冠,随机取一组8个代型制作Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠,其余三组24个代型制作CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠。所有修复体均由技工中心同一技师制作完成。所有冠修复体粘固前进行喷砂,热蒸汽喷洗清洁,吹干。将24颗CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠随机分成3组,每组8颗,随机分别使用国产聚羧酸水门汀、GC玻璃离子水门汀、Panavia F树脂粘结系统粘结。8颗钴铬金属烤瓷全冠、8颗Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠,使用Panavia F树脂粘结系统粘结。操作步骤严格按材料说明进行,仔细清除多余粘结剂。粘结后的牙体经过体外冷热循环实验,氨化硝酸银染色实验。用进口切片沿牙体长轴将瓷全冠切开,使用尼康光学体式显微镜观察并采集瓷全冠修复体剖面微渗漏染色的数码图像,测量染料沿瓷全冠与牙体间渗入的深度,分别观测4个剖面,取平均值。 结果 相同条件下,在粘结和边缘封闭性能方面,Panavia F树脂粘结系统优于GC玻璃离子水门汀,而GC玻璃离子水门汀优于国产聚羧酸水门汀。相同条件下,边缘封闭性能方面,Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠与CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠无明显差别,二者的边缘微渗漏要少于钴铬金属烤瓷全冠。 结论 1、本实验条件下,相同瓷全冠组中,不同粘结剂微渗漏不同。粘结剂对抗微渗漏的能力方面Panavia F树脂粘结系统优于GC玻璃离子水门汀,GC玻璃离子水门汀优于国产聚羧酸水门汀。 2、本实验条件下,相同粘结剂组中,不同全冠微渗漏不同。Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠与CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠无明显差别,二者的边缘微渗漏要少于钴铬金属烤瓷全冠。
【图文】：

1 钴铬烤瓷全冠 32 0.872 Cercon ClassⅡ激光扫描 32 0.55系统二氧化锆全瓷冠3 CerconCAD/CAM系统 32 0.52二氧化锆全瓷冠注：F值检验，，钴铬烤瓷全冠，Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠，CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠，3种瓷全冠间的微渗漏差异有显著性（P<0.05），作LSD-t进一步两两比较，钴铬烤瓷全冠微渗漏与Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠微渗漏有显著性（P<0.05），钴铬烤瓷全冠微渗漏与CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠微渗漏有显著性（P<0.05），Cercon ClassⅡ激光扫描系统二氧化锆全瓷冠微渗漏与CerconCAD/CAM系统二氧化锆全瓷冠微渗漏无显著性差异（P>0.05）。

图1 Cercon Class Ⅱ激光 图2 CerconCAD/CAM系统二氧化锆扫描系统二氧化锆全瓷冠 全瓷冠用国产聚羧酸锌水门汀用Panavia F树脂粘结系统 粘结的微渗漏显微镜照片粘结的微渗漏显微镜照片
【学位授予单位】：辽宁医学院
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2011
【分类号】：R783

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本文编号：2603200