激光粒度仪测定超细碳化硅粉体粒度研究

发布时间：2017-06-30 00:07

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【摘要】：以蒸馏水为分散介质,采用激光粒度仪对超细碳化硅粉体粒径进行测定。考察了超声波分散功率、超声波分散时间、分散剂种类、分散剂用量、遮光比等因素对超细碳化硅粉体粒径测定的影响。确定了测试超细碳化硅粉体粒径的最佳条件:超声波分散功率为200 W,超声波分散时间为10 min,选择质量浓度为2.0 g/L的聚乙二醇2000作为分散剂,遮光比为10.0%。在此条件下超细碳化硅粉体的粒度分析结果重现性好、数据比较准确。
【作者单位】： 湖南人文科技学院化学与材料科学系;
【关键词】： 激光粒度仪 碳化硅 粒度分析 分散剂
【基金】：湖南省教育厅科学研究重点项目(15A097) 湖南人文科技学院产学研合作引导项目(2013年)
【分类号】：TQ163.4;TB383.3
【正文快照】： 碳化硅(Si C)具有优异的综合性能,在机械、化工、能源和军工等领域得到大量应用,是很有前途的工程材料[1]。超细Si C粉体粒径大小及其分布对制备材料质量和性能产生重要影响。Si C粉体粒径越小,晶粒间相互作用越强烈,晶粒发生团聚现象越明显,因而一般条件下对超细粉体的粒度分

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