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晶圆测试信息管理系统流程改造实施研究

发布时间:2017-04-09 08:21

  本文关键词:晶圆测试信息管理系统流程改造实施研究,由笔耕文化传播整理发布。


【摘要】:集成电路产业在经济发展中一直受到优先支持,而自2013年以来国家层面酝酿的扶持集成电路产业政策也在2014年落地,明确了支撑经济社会发展和保障国家安全的战略性基础性。而但由历史性的和结构性的原因,我国的集成电路产业发展虽然在过去15年中取得了显著的进步,在和其他一些先进国家和地区的产业竞争中还是面对极大的压力。[1]属于集成电路产业后段的晶圆测试代工业,作为相对进入门槛较低,相对更容易快速形成规模的后端产业链,对于产业发展具有极为重要的意义和指标性,也成为了最容易取得产业突破的一环。在发展晶圆测试产业过程中,我们发现怎样收集过滤选择更有效率更有用的信息到服务对象手上,以便客户能更快速准确的斟酌分析优中选优,决定最终策略,这成为晶圆测试代工服务中越来越重要,越来越被认可的一个首选优势。本研究通过对案例测试企业管理信息系统现状的分析,探讨在信息管理系统流程改造中应用相关RFID理论和半导体业内实际应用案例;详细分析研究企业导入基于RFID建立的“晶圆测试即时共享信息系统”中,供应链的信息管理、精确库存管理、晶圆测试数据技术参数管理三大管理模块的可行性分析和实际系统搭建执行。并基于系统实施的效益分析,验证晶圆测试把RFID引进生产应用的可执行性,再有机的结合"RFID技术”与“信息系统”,减少单位测试及处理时间、增进测试及处理和协作效率,切实掌控在制产品的价值流、改进测试及处理相关流程的实时控制和分析、完备的晶圆测试及相关处理信息提供,最终对系统实施对于企业经营管理带来的效益和帮助进行总结。并做出对未来继续改善和发展方向的建议,以此为未来继续改善的基础并为产业界其他企业参考。
【关键词】:信息管理系统 实时共享 晶圆测试 流程改造
【学位授予单位】:大连理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TP391.44;F274
【目录】:
  • 摘要4-5
  • Abstract5-9
  • 1 绪论9-11
  • 1.1 论文研究背景9
  • 1.2 论文研究目的9-10
  • 1.3 论文结构10-11
  • 2 相关理论和文献综述11-21
  • 2.1 RFID的基本原理和发展应用历史11-12
  • 2.1.1 RFID的基本原理和组成要素分解11
  • 2.1.2 RFID的发展应用历史11-12
  • 2.2 RFID系统在半导体产业应用12-18
  • 2.2.1 半导体产业中RFID的分类和比较选择12-13
  • 2.2.2 半导体产业中的应用案例13-18
  • 2.3 项目管理、信息系统相关理论18-20
  • 2.3.1 项目管理相关理论18-19
  • 2.3.2 信息系统相关理论19-20
  • 2.4 本研究对以往应用的突破展望20-21
  • 3 企业信息管理现状及问题分析21-31
  • 3.1 晶圆测试简介21-27
  • 3.1.1 半导体制造产业链简介21-22
  • 3.1.2 晶圆测试的生产流程和管理方法特点22-24
  • 3.1.3 晶圆测试作业流程简介24-27
  • 3.2 案例企业现状分析27-31
  • 3.2.1 企业简介27
  • 3.2.2 现有相关作业流程27-28
  • 3.2.3 企业信息系统问题分析28-31
  • 4 信息系统流程改造实施目标和应用设计31-39
  • 4.1 RFID应用对象介绍31-33
  • 4.2 系统流程改造实施目标33-35
  • 4.3 实时信息系统设计和架构35-39
  • 5 信息系统的实施和效益分析39-48
  • 5.1 系统实施步骤39-41
  • 5.1.1 应用实施步骤39
  • 5.1.2 具体实施的项目管理39-41
  • 5.2 实施过程中的问题解决41-42
  • 5.3 实施后的作业流程和信息系统总览42-44
  • 5.3.1 实施后的作业流程42-43
  • 5.3.2 流程改造后新系统完整信息流43-44
  • 5.4 流程改造后系统实施效益分析和总结44-48
  • 5.4.1 流程改造后系统实施对案例企业的效益44-45
  • 5.4.2 系统延伸对企业上下游供应链的潜在效益45
  • 5.4.3 系统实施的经验总结45-48
  • 结论48-49
  • 参考文献49-50
  • 致谢50-51

【参考文献】

中国期刊全文数据库 前2条

1 史玉良;李书芳;洪卫军;;高速环境下UHF RFID标签读取率测试研究[J];电子测量技术;2011年09期

2 ;Analysis of dipole-like ultra high frequency RFID tags close to metallic surfaces[J];Journal of Zhejiang University(Science A:An International Applied Physics & Engineering Journal);2009年08期

中国硕士学位论文全文数据库 前2条

1 马伟凯;基于IC测试系统数据采集的软硬件设计[D];电子科技大学;2011年

2 周宏生;基于Web服务的企业应用集成的研究与应用[D];大连理工大学;2005年


  本文关键词:晶圆测试信息管理系统流程改造实施研究,由笔耕文化传播整理发布。



本文编号:294865

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