基于专利文献的技术机会分析方法研究

发布时间：2017-03-31 05:21

  本文关键词：基于专利文献的技术机会分析方法研究，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】： 在面向未来的技术分析需求背景下,本文从新的视角对技术机会分析作了概念界定和理论探讨,并集中考察和研究了基于专利文献的分析方法在技术机会分析过程中的应用。 本文提出,技术机会分析是对特定单一技术领域的发展机会进行监测、理解和判断的一类技术预测方法。技术机会分析不仅是技术预测的子类,也是其他技术未来分析活动的组成部分或应用环节。专利分析作为科技情报研究中的一类重要方法,也为挖掘技术的发展机会提供了丰富、有效的手段。 本文的研究重点是专利技术机会分析方法框架的设计。首先,借鉴9-Windows创造性思维模型的思想,提出了一个引导技术机会分析的概念模型。在纵向上包括技术系统、子系统和超系统三个层次,横向上分为发展趋势、发展潜力和发展方向三个方面,根据该模型可以从不同角度对技术的发展特征进行系统化研究。 然后,在概念模型基础上,按照从系统层、子系统层到超系统层的分析顺序,设计了三类方法分别对应三个层次的特殊研究内容,形成阶梯状方法模型。同时,筛选、发掘和比较全面地归纳了适于发现技术机会的专利分析方法,揭示了它们的含义、作用和使用过程,结合方法模型构建了一个用于指导实际分析过程的动态、分层、可扩展方法框架。系统层包括9种主要反映技术发展趋势的第一类方法;子系统层包含了第一类方法以及15种考察技术结构,反映发展方向的第二类方法;超系统层包含第一类和第二类方法,以及8种考察技术与科学、产业等的交互,反映发展潜力的第三类方法。 最后,以TFT-LCD中的广视角技术为对象,根据所构建框架集成多个层面的方法进行了实证。在系统层选取了技术生命周期分析法和TRIZ技术成熟度预测,子系统层选取了IPC分类关联、主题关联与形态分析,超系统层选取了科学关联度、专利与产业分类法结合分析等方法,比较全面、深入地揭示了广视角技术的发展现状和潜在机会,可结合专家意见和其他方法为技术决策提供参考。实验结果验证了基于专利文献进行技术机会分析的合理性和可行性。 在实验中,重点对TRIZ技术成熟度预测和专利形态分析进行了研究,引入调整被引次数指标和词频分析手段,加速了成熟度预测过程,从可行性和重要性两个方面设计了未来可能形态选择的分析方案。
【关键词】：技术机会分析 专利分析 方法框架
【学位授予单位】：中国科学院研究生院（文献情报中心）
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2008
【分类号】：G306.0
【目录】：

• 摘要4-5
• Abstract5-10
• 第1章 绪论10-17
• 1.1 研究背景10-12
• 1.1.1 技术未来分析与科技情报的协同发展需求10-11
• 1.1.2 专利文献分析的特殊视角11-12
• 1.2 问题提出12-13
• 1.3 研究意义13
• 1.4 研究内容、方法与创新点13-17
• 1.4.1 研究内容与论文组织结构13-15
• 1.4.2 研究方法15
• 1.4.3 可能的创新之处15-17
• 第2章 专利技术机会分析理论背景17-25
• 2.1 技术机会分析的概念和意义17-20
• 2.1.1 概念界定17-19
• 2.1.2 意义19-20
• 2.2 技术机会分析与相关领域20-22
• 2.2.1 技术预测20-21
• 2.2.2 技术预见21-22
• 2.2.3 技术评估22
• 2.2.4 技术路线图22
• 2.2.5 技术竞争情报22
• 2.3 专利技术机会分析的定位22-24
• 2.4 本章小结24-25
• 第3章 专利技术机会分析研究现状述评25-36
• 3.1 技术未来分析方法论研究25-27
• 3.2 专利技术机会分析方法与应用研究27-32
• 3.2.1 专利指标28-29
• 3.2.2 专利地图29-31
• 3.2.3 与其他技术预测方法的结合31-32
• 3.3 专利技术机会分析研究进展总结32-35
• 3.3.1 专利技术机会分析的优劣势32-34
• 3.3.2 研究有待完善之处34-35
• 3.4 本章小结35-36
• 第4章 专利技术机会分析方法框架36-68
• 4.1 技术的系统观点36
• 4.2 技术机会的分析角度36-38
• 4.3 技术机会分析模型38-43
• 4.3.1 技术机会分析概念模型38-40
• 4.3.2 技术机会分析方法模型40-42
• 4.3.3 方法模型的特点42-43
• 4.4 专利技术机会分析分层方法框架43-67
• 4.4.1 系统层方法框架43-53
• 4.4.2 子系统层方法框架53-63
• 4.4.3 超系统层方法框架63-67
• 4.5 本章小结67-68
• 第5章 专利技术机会分析实验——以TFT-LCD 广视角技术为例68-98
• 5.1 研究对象介绍68-69
• 5.2 数据准备69-70
• 5.2.1 数据源69
• 5.2.2 数据采集69-70
• 5.3 广视角技术系统层实证分析70-77
• 5.3.1 技术生命周期分析法71
• 5.3.2 TRIZ 技术成熟度预测71-77
• 5.4 广视角技术子系统层实证分析77-94
• 5.4.1 IPC 分类统计78
• 5.4.2 关键词统计78-80
• 5.4.3 主题关联、分类关联和时间关联80-85
• 5.4.4 专利形态分析85-94
• 5.5 广视角技术超系统层实证分析94-97
• 5.5.1 技术环境94-95
• 5.5.2 科学环境95
• 5.5.3 产业环境95-97
• 5.6 本章小结97-98
• 第6章 结语98-100
• 6.1 研究成果98
• 6.2 研究局限98-99
• 6.3 可能的发展99-100
• 参考文献100-106
• 发表论文和参与课题目录106-107
• 致谢107-108

【引证文献】

中国期刊全文数据库 前4条

1 徐峰;冷伏海;;专利技术形态分析方法研究进展[J];图书情报工作;2010年10期

2 陈雪飞;肖仙桃;史新艳;;基于文献的领域知识网络构建研究[J];图书情报知识;2011年03期

3 王兴旺;汤琰洁;;基于专利地图的技术预测体系构建及其实证研究[J];情报理论与实践;2013年03期

4 王兴旺;;基于专利地图的技术分析预测方法研究[J];情报科学;2013年09期

中国硕士学位论文全文数据库 前1条

1 王艳领;专利等级划分方法的研究与实现[D];河北工业大学;2011年

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本文编号：279007