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面向机载存储单元的单粒子翻转故障测试系统设计

发布时间:2018-06-20 21:13

  本文选题:面向 + 机载 ; 参考:《中国民航大学》2015年硕士论文


【摘要】:机载存储单元是航电系统数据通信过程的重要组成部分,关键存储数据的失效会对飞行安全造成重大影响。近些年,随着芯片制造工艺的提升,电子元器件的尺寸越来越小,这样的器件安装在航电系统中发生单粒子翻转的概率大幅度提高,单粒子翻转故障的检测也就变得越来越重要。本文就机载存储单元的单粒子翻转故障问题进行研究,根据并口通信、串口通信和ARINC429总线的不同特点分别设计相应的故障测试系统。硬件方面,以FPGA最小系统板作为主控部分,完成测试数据的板卡端收发、模拟故障生成及不同类型信号间的相互转换等工作,使用NI公司的6548型数字收发板卡和德国的AIM公司的ACX429板卡完成输出数据的采集任务;软件方面,使用LabVIEW与MATLAB混合编程的方式生成测试数据,基于LabVIEW软件和PXI自动化测试平台开发单粒子翻转故障测试系统。传统的测试系统通常由示波器和逻辑分析仪等纯粹的硬件工具搭建,连线复杂、数据分析效率较低。本文的测试系统采用软硬件相结合的方式,由LabVIEW软件控制硬件工具执行测试过程,既减少了接线数量,又能够模拟机载存储单元的单粒子翻转故障及其对测试系统造成的影响,实时监测系统故障状态、准确查找故障地址。综上所述,本测试系统减少了工作量,极大提高了测试效率。
[Abstract]:Airborne storage unit is an important part of the data communication process of avionics system. The failure of key storage data will have a significant impact on flight safety. In recent years, with the improvement of chip manufacturing technology, the size of electronic components is becoming smaller and smaller. The detection of single-particle flip fault becomes more and more important. In this paper, the single particle flip fault of airborne memory cell is studied. According to the different characteristics of parallel port communication, serial communication and ARINC429 bus, the corresponding fault test system is designed. In the hardware aspect, the FPGA minimum system board is used as the main control part to complete the transceiver of the test data board, to simulate the fault generation and the mutual conversion between different types of signals, and so on. The output data is collected by using the 6548 digital transceiver board of NI Company and the ACX429 board card of AIM Company of Germany, and the test data is generated by the mixed programming of LabVIEW and MATLAB in software. Based on LabVIEW software and PXI automatic test platform, a single particle flip fault test system is developed. The traditional test system is usually built with pure hardware tools such as oscilloscope and logic analyzer. The connection is complex and the efficiency of data analysis is low. The test system in this paper adopts the combination of software and hardware, and LabVIEW software controls the hardware tool to execute the test process, which not only reduces the number of wiring, but also simulates the single particle flip fault of the airborne memory cell and its influence on the test system. Real-time monitoring system fault state, accurate search fault address. To sum up, the test system reduces the workload and greatly improves the test efficiency.
【学位授予单位】:中国民航大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:V243

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本文编号:2045689

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