以空气为介质的低热导率材料研究
【图文】:
的方法:首先,在硅片的表面刻蚀沟道,沟道的存在使得空气能够存在于其中,通过和空白硅片的对比,可以了解到两者之间热导率的差异性。其次,制备泡沫铜、泡沫镍,其表面形成的多孔结构[4]为空气的填充创造了条件,通过和铜片、镍片进行比较就能看出其中的区别。另外,我们还采用了模拟仿真的方法研究了孔隙率对热导率大小的影响。1试验1.1硅片的刻蚀试验中使用的硅片参数如下:单面抛光,直径(100.0±0.4)mm,厚度0.5mm。首先将硅片进行清洗,然后在表面旋涂光刻胶,在90℃进行光刻胶前烘,时间为3min,如图1a;之后将涂覆光刻胶的硅片进行曝光,这个过程中,掩膜版上的图形就转移到了光刻胶上,如图1b;将曝光过的硅片进行显影,在曝光过程中受到光照的部分光刻胶被显影液溶解并被冲走,硅片上形成了所需要的光刻胶图形,如图1c;为了去除显影后光刻胶内残留的溶剂,使光刻胶坚固并提高其粘附力和抗刻蚀性,在90~110℃热板上进行后烘,时间为3min,如图1d;最后,对所需要图形化的膜层进行刻蚀[5,6]。图1深硅刻蚀的流程刻蚀后的硅的表面图如图2所示,硅片便面刻蚀的深度为50μm,刻蚀的宽度为150μm。图2硅的表面1.2泡沫铜、泡沫镍的制备泡沫铜以及泡沫镍的制作方法有很多,包括电沉积法、烧结法等。以烧结法制备泡沫铜为例,首先将NaCl颗粒与铜粉以及添加剂混合均匀后压制得到生坯,然后放置在氩气气氛的烧结DOI:10.16577/j.cnki.42-1215/tb.2016.s1.017
硅片进行清洗,然后在表面旋涂光刻胶,在90℃进行光刻胶前烘,时间为3min,如图1a;之后将涂覆光刻胶的硅片进行曝光,这个过程中,掩膜版上的图形就转移到了光刻胶上,如图1b;将曝光过的硅片进行显影,在曝光过程中受到光照的部分光刻胶被显影液溶解并被冲走,硅片上形成了所需要的光刻胶图形,如图1c;为了去除显影后光刻胶内残留的溶剂,使光刻胶坚固并提高其粘附力和抗刻蚀性,在90~110℃热板上进行后烘,时间为3min,,如图1d;最后,对所需要图形化的膜层进行刻蚀[5,6]。图1深硅刻蚀的流程刻蚀后的硅的表面图如图2所示,硅片便面刻蚀的深度为50μm,刻蚀的宽度为150μm。图2硅的表面1.2泡沫铜、泡沫镍的制备泡沫铜以及泡沫镍的制作方法有很多,包括电沉积法、烧结法等。以烧结法制备泡沫铜为例,首先将NaCl颗粒与铜粉以及添加剂混合均匀后压制得到生坯,然后放置在氩气气氛的烧结DOI:10.16577/j.cnki.42-1215/tb.2016.s1.017
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