基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统

发布时间：2021-12-29 16:16

　　针对飞机发动机涡轮叶片缺陷检测难度大、效率低、严重制约航空装备保障的问题,设计一套基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统。该系统采用FPGA结合A/D采样芯片完成64通道数据采集,并以基于android系统的ARM实现对各功能单元的控制。FPGA控制A/D采样芯片完成传感器阵列的高速数据采集并对其进行预处理,经UART接口送给ARM后,再由ARM完成信号特征提取和缺陷检测,并实现三维实时成像。测试结果表明:该系统对微裂纹的长度检测误差<0.2 mm,成像速率达10帧/s,满足工业应用需求。 

【文章来源】：中国测试. 2016,42(01)北大核心

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

微损伤检测系统组成框图

试件缺陷三维成像效果图

微损伤检测系统组成框图

【参考文献】：
期刊论文
[1]基于ARM+FPGA的高精度数据采集系统设计[J]. 张淑梅.  国外电子测量技术. 2014(11)
[2]航空航天复合材料结构非接触无损检测技术的进展及发展趋势[J]. 马保全,周正干.  航空学报. 2014(07)
[3]基于动态采样的锁相放大微弱信号检测[J]. 聂娅琴,许雪梅,李奔荣,杨兵初.  传感技术学报. 2013(09)
[4]蓬勃发展的我国无损检测技术[J]. 耿荣生,景鹏.  机械工程学报. 2013(22)
[5]无损检测新技术在航空工业中的应用[J]. 张咏军,张咏红,王航宇.  无损检测. 2011(03)

硕士论文
[1]基于平面电磁传感器阵列的缺陷定量检测方法研究[D]. 贺红娟.国防科学技术大学 2012



本文编号：3556461