航空高度FPGA单粒子翻转飞行实验及失效分析

发布时间：2017-09-21 03:16

  本文关键词：航空高度FPGA单粒子翻转飞行实验及失效分析

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【摘要】：随着微电子工艺的发展,小尺寸、高密度及低电压的器件越来越多地应用于航空电子设备。许多科研人员发现高层大气及外太空的带电粒子带来的粒子辐射会对航空电子器件产生严重的影响。基于民用航空局方的要求,鉴于机载设备对单粒子翻转效应的隐患以及航空机载设备国产化的迫切需求,开展FPGA器件用于机载电子设备可能遭遇的单粒子翻转效应的风险问题研究。分析了主流FPGA在航空飞行高度的飞行实验数据,进一步论证其是否满足民用航空的需求。大量数据的分析结果证明,以当下主流FPGA芯片的工艺尺寸、工作电压的条件,单粒子翻转效应是一个不容忽视的问题。即便是航空飞行高度甚至是地面高度,FPGA芯片因单粒子翻转导致失效也是无法满足民用航空设备的安全性要求。
【作者单位】： 中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室;中国民航大学经济与管理学院;中国民航大学航空工程学院;
【关键词】： 单粒子翻转 机载电子 抗辐射 飞行实验 失效分析
【基金】：国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合基金资助项目(U1333120) 天津市自然科学基金项目(15JCQNJC42800) 中央高校基本科研业务费专项资金项目(3122014C025) 民航科技创新引导资金重大专项项目(MHRD20140103)
【分类号】：V243;TN791
【正文快照】： 随着集成电子器件的发展,应用在航空领域的电子器件的集成度变得越来越高,芯片的制作工艺尺寸也越来越小。许多科研人员发现高层大气以及外太空的带电粒子带来的粒子辐射会对电子器件产生严重的影响。基于SRAM型的FPGA由于其可循环使用,能够节约很大的成本,并且拥有非常出色的

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本文编号：892048